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Erster Blick in das Innere eines Atoms - Begegnungen mit Gerhard Richter zwischen Kunst und Wissenschaft
ISBN: 9783753301747 / Niemiecki / Twarda / 2022 / 88 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Im Juli 2000 erschien in der Frankfurter Allgemeinen Zeitung ein Artikel mit dem Titel: "Erster Blick in das Innere eines Atoms" mit einer schemenhaften Abbildung der Elektronenhülle eines Atoms. Der Artikel faszinierte den Maler Gerhard Richter so, dass er ihn als Vorlage für die Edition "Erster Blick (2000)" verwendete. Richter interessierte sich aber auch dafür, wie die Physiker derart kleine Objekte abbilden und so kam es zum Kontakt zwischen ihm und Franz J. Gießibl, dem Erfinder des "Auges" für das bei der Abbildung eingesetzte Rasterkraftmikroskop. Der Kontakt zwischen Richter und...
Im Juli 2000 erschien in der Frankfurter Allgemeinen Zeitung ein Artikel mit dem Titel: "Erster Blick in das Innere eines Atoms" mit einer schemenhaft...
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cena:
136,43 zł |
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First View Inside an Atom: Encounters with Gerhard Richter Between Art and Science
ISBN: 9783753301884 / Angielski / Twarda / 2022 / 88 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
cena:
136,43 zł |
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2
ISBN: 9783642014949 / Angielski / Twarda / 2009 / 401 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 20 dni roboczych. Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of... Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkab... |
cena:
856,04 zł |
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Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2
ISBN: 9783642260704 / Angielski / Miękka / 2012 / 401 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 20 dni roboczych. Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution; tuning fork; atomic manipulation; magnetic exchange force microscopy; atomic and molecular imaging in liquids; and other new technologies. These results and technologies are now helping evolve NC-AFM toward practical tools for characterization and manipulation of... Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkab... |
cena:
856,04 zł |
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