wyszukanych pozycji: 11
Técnicas experimentais para caracterização de materiais - Parte-1
ISBN: 9786204761442 / Portugalski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Principes fondamentaux et applications de la microscopie ? force atomique
ISBN: 9786204698045 / Francuski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie
ISBN: 9786204698069 / Niemiecki Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Techniques expérimentales pour la caractérisation des matériaux - Partie 1
ISBN: 9786204761428 / Francuski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Ce livre se concentre sur les différents outils de caractérisation des matériaux en se focalisant sur la morphologie/topologie et les propriétés structurelles des matériaux. Dans le chapitre relatif aux outils de caractérisation morphologique, l'ouvrage traite principalement du microscope électronique à transmission (MET), du microscope électronique à balayage (MEB) et du microscope à force atomique (AFM), tandis que le chapitre sur la caractérisation structurelle comprend les détails du diffractomètre à rayons X (XRD), de la diffraction des neutrons, du microscope Raman et de...
Ce livre se concentre sur les différents outils de caractérisation des matériaux en se focalisant sur la morphologie/topologie et les propriétés ...
|
|
cena:
183,92 zł |
Experimentelle Techniken zur Materialcharakterisierung - Teil 1
ISBN: 9786204761404 / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigenschaften der Materialien. Im Kapitel über die morphologischen Charakterisierungswerkzeuge werden vor allem das Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das Rasterelektronenmikroskop (SEM) und das Rasterkraftmikroskop (AFM) besprochen, während das Kapitel über die strukturelle Charakterisierung die Details des Röntgendiffraktometers (XRD), der Neutronenbeugung, des Ramanmikroskops und der Elektronenstrahlbeugung (SAED) enthält. Hier haben wir...
Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigens...
|
|
cena:
183,92 zł |
Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica
ISBN: 9786204698052 / Włoski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Tecniche sperimentali per la caratterizzazione dei materiali - Parte 1
ISBN: 9786204761435 / Włoski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Fundamentos e Aplica??es da Microscopia da For?a At?mica
ISBN: 9786204698083 / Portugalski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Jexperimental'nye metody opredeleniq harakteristik materialow - chast' 1
ISBN: 9786204761459 / Rosyjski / Miękka / 64 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
91,27 zł |
Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
ISBN: 9786200247247 / Angielski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |
Experimental Techniques for Material Characterization-Part-1
ISBN: 9786200254405 / Angielski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
183,92 zł |