topmenu
Wyniki wyszukiwania:
wyszukanych pozycji: 10
 |
Experimentelle Techniken zur Materialcharakterisierung - Teil 1
ISBN: 9786204761404 / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigenschaften der Materialien. Im Kapitel über die morphologischen Charakterisierungswerkzeuge werden vor allem das Transmissionselektronenmikroskop (TEM), das Rasterelektronenmikroskop (SEM) und das Rasterkraftmikroskop (AFM) besprochen, während das Kapitel über die strukturelle Charakterisierung die Details des Röntgendiffraktometers (XRD), der Neutronenbeugung, des Ramanmikroskops und der Elektronenstrahlbeugung (SAED) enthält. Hier haben wir...
Dieses Buch befasst sich mit verschiedenen Werkzeugen zur Materialcharakterisierung mit Schwerpunkt auf Morphologie/Topologie und strukturellen Eigens...
|
cena:
178,89 |
 |
Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie
ISBN: 9786204698069 / Niemiecki Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Técnicas experimentais para caracterização de materiais - Parte-1
ISBN: 9786204761442 / Portugalski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica
ISBN: 9786204698052 / Włoski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Techniques expérimentales pour la caractérisation des matériaux - Partie 1
ISBN: 9786204761428 / Francuski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Ce livre se concentre sur les différents outils de caractérisation des matériaux en se focalisant sur la morphologie/topologie et les propriétés structurelles des matériaux. Dans le chapitre relatif aux outils de caractérisation morphologique, l'ouvrage traite principalement du microscope électronique à transmission (MET), du microscope électronique à balayage (MEB) et du microscope à force atomique (AFM), tandis que le chapitre sur la caractérisation structurelle comprend les détails du diffractomètre à rayons X (XRD), de la diffraction des neutrons, du microscope Raman et de...
Ce livre se concentre sur les différents outils de caractérisation des matériaux en se focalisant sur la morphologie/topologie et les propriétés ...
|
cena:
178,89 |
 |
Tecniche sperimentali per la caratterizzazione dei materiali - Parte 1
ISBN: 9786204761435 / Włoski / Miękka / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Principes fondamentaux et applications de la microscopie ? force atomique
ISBN: 9786204698045 / Francuski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Fundamentos e Aplica??es da Microscopia da For?a At?mica
ISBN: 9786204698083 / Portugalski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Atomic Force Microscopy Fundamentals and Applications
ISBN: 9786200247247 / Angielski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
 |
Experimental Techniques for Material Characterization-Part-1
ISBN: 9786200254405 / Angielski Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
178,89 |
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
