Dieses Papier stellt das Modell vor, das für die Analyse von Bildern mit Beugungsmustern entwickelt wurde, sowie die Software, die entwickelt wurde, um Messungen von Winkeln und Abständen zwischen verschiedenen charakteristischen Punkten (Signalen) durchzuführen, die in den Mustern enthalten sind, die von den Forschern des Center for Research in Advanced Materials (CIMAV) untersucht werden. Der Hauptgrund für die Entwicklung dieses Systems liegt darin, dass Forscher den Prozess der Analyse und Indexierung von Beugungsmustern manuell durchführen müssen, eine Aufgabe, die mühsam und...

This paper presents the model designed for the analysis of images containing diffraction patterns, as well as the software developed to make measurements of angles and distances between different characteristic points (signals) included in the patterns under study by the researchers of the Center for Research in Advanced Materials (CIMAV). The main reason for developing this system is that researchers must perform the process of analysis and indexing of diffraction patterns manually, a task that becomes tedious and prone to human error. That is why the tool was designed to automate and assist...

Cet article présente le modèle conçu pour l'analyse des images contenant des motifs de diffraction, ainsi que le logiciel développé pour effectuer des mesures d'angles et de distances entre différents points caractéristiques (signaux) inclus dans les motifs étudiés par les chercheurs du Centre de recherche sur les matériaux avancés (CIMAV). La raison principale du développement de ce système est que les chercheurs doivent effectuer manuellement le processus d'analyse et d'indexation des modèles de diffraction, une tâche qui devient fastidieuse et sujette à l'erreur humaine....