Indexation du modèle de diffraction

ISBN-13: 9786202991650 / Francuski / Miękka / 144 str.

Tania Campos

Opis

Cet article présente le modèle conçu pour l'analyse des images contenant des motifs de diffraction, ainsi que le logiciel développé pour effectuer des mesures d'angles et de distances entre différents points caractéristiques (signaux) inclus dans les motifs étudiés par les chercheurs du Centre de recherche sur les matériaux avancés (CIMAV). La raison principale du développement de ce système est que les chercheurs doivent effectuer manuellement le processus d'analyse et d'indexation des modèles de diffraction, une tâche qui devient fastidieuse et sujette à l'erreur humaine. C'est pourquoi l'outil a été conçu pour automatiser et aider à l'indexation des motifs dans les images, facilitant le processus de détection du signal et permettant ainsi d'obtenir une mesure plus précise entre les éléments du motif de diffraction analysé.

O autorze

Campos, Tania Tania Campos a obtenu une maîtrise en systèmes informatiques dans le domaine de l'intelligence artificielle au campus TecNM de Chihuahua II en 2016. Elle est co-auteur de l'article Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software publié dans le Journal of Mechanics Engineering and Automation en 2015.