Indexierung von Beugungsmustern

ISBN-13: 9786202991636 / Niemiecki / Miękka / 148 str.

Tania Campos

Opis

Dieses Papier stellt das Modell vor, das für die Analyse von Bildern mit Beugungsmustern entwickelt wurde, sowie die Software, die entwickelt wurde, um Messungen von Winkeln und Abständen zwischen verschiedenen charakteristischen Punkten (Signalen) durchzuführen, die in den Mustern enthalten sind, die von den Forschern des Center for Research in Advanced Materials (CIMAV) untersucht werden. Der Hauptgrund für die Entwicklung dieses Systems liegt darin, dass Forscher den Prozess der Analyse und Indexierung von Beugungsmustern manuell durchführen müssen, eine Aufgabe, die mühsam und anfällig für menschliche Fehler wird. Aus diesem Grund wurde das Werkzeug so konzipiert, dass es die Indizierung von Mustern in Bildern automatisiert und unterstützt, den Prozess der Signalerkennung erleichtert und so eine genauere Messung zwischen den Elementen des analysierten Beugungsmusters erzielt.

O autorze

Campos, Tania Tania Campos erwarb 2016 am TecNM-Campus Chihuahua II auf dem TecNM-Campus Chihuahua II einen Master-Abschluss in Computersystemen im Bereich der künstlichen Intelligenz. Sie ist Mitautorin des Artikels Method for Signals Detection in Single Crystal Diffraction Patterns through a Diffraction Pattern Indexing Software, der 2015 im Journal of Mechanics Engineering and Automation veröffentlicht wurde.