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Studie des Röntgendiffraktometers (XRD)
ISBN: 9786205208946 / Miękka / 64 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Eine ordnungsgemäße Probenvorbereitung ist entscheidend für die Gewinnung qualitativ hochwertiger Röntgendiffraktometerdaten. Wenn die Probe nicht innerhalb der Parameter für eine ordnungsgemäße Vorbereitung der Röntgenbeugungsprobe platziert wurde, entstehen Fehler, die eine Phasenidentifizierung schwierig bis unmöglich machen und die Schätzungen der Häufigkeit und Kristallinität verfälschen. Idealerweise sollten drei Bedingungen erfüllt sein, um gute Daten zu erhalten: (a) Völlige Zufälligkeit der Kristallitorientierung. (b) Ausreichende Anzahl von Kristalliten, um eine...
Eine ordnungsgemäße Probenvorbereitung ist entscheidend für die Gewinnung qualitativ hochwertiger Röntgendiffraktometerdaten. Wenn die Probe nicht...
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cena:
196,82 |
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Issledowanie rentgenowskogo difrektometra (XRD)
ISBN: 9786205209035 / Rosyjski / Miękka / 68 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
cena:
88,78 |
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Étude du difrectomètre à rayons X (XRD)
ISBN: 9786205209042 / Francuski / Miękka / 64 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Une préparation correcte de l'échantillon est cruciale pour obtenir des données de haute qualité au diffractomètre à rayons X. Si l'échantillon n'a pas été placé dans les paramètres pour préparer correctement l'échantillon XRD alors il introduit des erreurs qui rendent l'identification des phases difficile voire impossible et les estimations des abondances et de la cristallinité erronées. Idéalement, nous préférons réunir trois conditions pour obtenir de bonnes données : (a) Orientation totalement aléatoire des cristallites. (b) Un nombre suffisant de cristallites pour...
Une préparation correcte de l'échantillon est cruciale pour obtenir des données de haute qualité au diffractomètre à rayons X. Si l'échantillon...
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cena:
196,82 |
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Estudo do Difrectómetro de Raios X (XRD)
ISBN: 9786205209028 / Portugalski / Miękka / 64 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
cena:
196,82 |
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Study of X-ray Difrectometer (XRD)
ISBN: 9786205495360 / Angielski / Miękka / 56 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. Proper sample preparation is crucial in getting highly quality X-ray diffractometer data. If the sample has not been putted within the parameters to properly prepare XRD sample then it introduces errors that make phase identification difficult to impossible and estimates of abundances and crystallinity erroneous. Ideally, we might prefer to lead three conditions so as to own good data: (a) Total randomness of crystallite orientation. (b) Sufficient number of crystallites to induce a representative intensity distribution for the sample. (c) Sufficient diffraction intensity to satisfy counting...
Proper sample preparation is crucial in getting highly quality X-ray diffractometer data. If the sample has not been putted within the parameters to p...
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cena:
196,82 |
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Studio del difrettometro a raggi X (XRD)
ISBN: 9786205209059 / Włoski / Miękka / 64 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
cena:
196,82 |