Étude du difrectomètre à rayons X (XRD)

ISBN-13: 9786205209042 / Francuski / Miękka / 64 str.

Ruchi Chandrakar

Opis

Une préparation correcte de l'échantillon est cruciale pour obtenir des données de haute qualité au diffractomètre à rayons X. Si l'échantillon n'a pas été placé dans les paramètres pour préparer correctement l'échantillon XRD alors il introduit des erreurs qui rendent l'identification des phases difficile voire impossible et les estimations des abondances et de la cristallinité erronées. Idéalement, nous préférons réunir trois conditions pour obtenir de bonnes données : (a) Orientation totalement aléatoire des cristallites. (b) Un nombre suffisant de cristallites pour induire une distribution d'intensité représentative de l'échantillon. (c) Une intensité de diffraction suffisante pour satisfaire les statistiques de comptage. Cet article met en évidence les méthodes de préparation parfaite d'échantillons de solides, de liquides et de gaz par XRD. La modification de la structure des matériaux en réponse à l'interaction solide-gaz revêt une grande importance dans de nombreux domaines. Les structures radiologiques du sodium, du potassium et des alliages sodium-potassium liquides sont étudiées par une méthode améliorée. En utilisant une technique de réservoir, une surface plane de métal liquide a été examinée par un faisceau monochromatique de rayons X dans un diffractomètre extrêmement focalisé.

O autorze

L'auteur du livre travaille actuellement à l'Université de Kalinga, en Inde, en tant que professeur adjoint au département de génie civil. Elle a une expérience de 8 ans dans l'enseignement et est responsable de la gestion de la construction et de la structure en acier.