• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Interferences in the photo detachment of negative ion systems » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

Interferences in the photo detachment of negative ion systems

ISBN-13: 9783639255805 / Angielski / Miękka / 2010 / 128 str.

Afaq Ahmad
Interferences in the photo detachment of negative ion systems Afaq Ahmad 9783639255805 VDM Verlag - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Interferences in the photo detachment of negative ion systems

ISBN-13: 9783639255805 / Angielski / Miękka / 2010 / 128 str.

Afaq Ahmad
cena 264,53 zł
(netto: 251,93 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 264,53 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 10-14 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

The purpose of this book is to understand the interferences in total and differential photo detachment cross sections of negative ions with and without the presence of a reflecting wall. photodetachment is a process in which a laser photon detaches an electron from a negative ion. This detached-electron then goes into an outgoing wave and the wave propagates away from the ion core. Far from the ion core, the wave propagates according to semiclassical mechanics, and it is correlated with classical trajectories. The wave fronts are perpendicular to the trajectories, and the waves propagate along the trajectories. For photodetachment of H near a re ecting wall, the waves initially propagating away from ion core are turned back by the re ecting wall, which then interfere with waves initially propagating in that direction, giving rise to a two-path interference pattern on a screen. The two-path interference of detached-electron waves can be used to infer the distance between source and wall and the bound length of a diatomic molecule. The interference fringes are indeed possible in view of the experiments on photo-detachment microscopy.""

The purpose of this book is to understand the interferences in total and differential photo detachment cross sections of negative ions with and without the presence of a reflecting wall. photodetachment is a process in which a laser photon detaches an electron from a negative ion. This detached-electron then goes into an outgoing wave and the wave propagates away from the ion core. Far from the ion core, the wave propagates according to semiclassical mechanics, and it is correlated with classical trajectories. The wave fronts are perpendicular to the trajectories, and the waves propagate along the trajectories. For photodetachment of H− near a reflecting wall, the waves initially propagating away from ion core are turned back by the reflecting wall, which then interfere with waves initially propagating in that direction, giving rise to a two-path interference pattern on a screen. The two-path interference of detached-electron waves can be used to infer the distance between source and wall and the bound length of a diatomic molecule. The interference fringes are indeed possible in view of the experiments on photo-detachment microscopy".

Kategorie:
Nauka, Chemia
Kategorie BISAC:
Science > Chemia - Fizyczna
Wydawca:
VDM Verlag
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783639255805
Rok wydania:
2010
Dostępne języki:
Angielski
Ilość stron:
128
Waga:
0.20 kg
Wymiary:
22.922.9 x 15.222.9 x 15.2 x 0
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Dr. Afaq Ahmad born on March 15, 1970 did his PhD at Institute of Theoretical Physics, Chinese Academy of Sciences, Beijing China. Presently he is Assistant Professor at the Centre of Excellence in Solid State Physics, University of the Punjab, Pakistan, where he teaches and conducts research in the field of material science.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia