• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri

ISBN-13: 9780750304412 / Angielski / Twarda / 1997 / 708 str.

J. M. Rodenburg
Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri Rodenburg 9780750304412 Institute of Physics Publishing - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Electron Microscopy and Analysis 1997, Proceedings of the Institute of Physics Electron Microscopy and Analysis Group Conference, University of Cambri

ISBN-13: 9780750304412 / Angielski / Twarda / 1997 / 708 str.

J. M. Rodenburg
cena 730,17 zł
(netto: 695,40 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 394,65 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Electron Microscopy and Analysis 1997 celebrates the centenary anniversary of the discovery of the electron by J.J. Thomson in Cambridge and the fiftieth anniversary of this distinguished Institute group. The book includes papers on the early history of electron microscopy (from P. Hawkes), the development of the scanning electron microscope at Cambridge (from K. Smith), electron energy loss spectroscopy (from L.M. Brown), imaging methods (from J. Spence), and the future of electron microscopy (from C. Humphreys). Covering a wide range of applications of advanced techniques, it discusses electron imaging, electron energy-loss and x-ray analysis, and scanning probe and electron beam microscopies. This volume is a handy reference for professionals using microscopes in all areas of physics, materials science, metallurgy, and surface science to gain an overview of developments in our understanding of materials microstructure and of advances in microscope interrogation techniques.

Kategorie:
Nauka, Biologia i przyroda
Kategorie BISAC:
Science > Microscopes & Microscopy
Science > Fizyka
Science > Electron Microscopes & Microscopy
Wydawca:
Institute of Physics Publishing
Seria wydawnicza:
Institute of Physics Conference
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780750304412
Rok wydania:
1997
Numer serii:
000011665
Ilość stron:
708
Waga:
1.15 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 3.81
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Wydanie ilustrowane

Abstracted in INSPEC Database.
ted in INSPEC Database.

Plenary lectures (5 papers). New instrumentation and electron optics (15 papers). High resolution electron microscopy (8 papers). Electron crystallography (5 papers). Electron energy-loss spectroscopy (11 papers). Advanced scanning probe techniques (6 papers). Advanced scanning electron microsocpy and surface science (11 papers). Microanalysis (27 papers). Catalysts (7 papers). Semiconductors and superconductors (12 papers). Ceramics and interfaces (19 papers). Intermetallics (11 papers). General materials analysis (23 papers). Index.

John M. Rodenburg

Rodenburg, J. M. Rodenburg, University of Cambridge, UK.... więcej >


Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia