El estudio que se presenta esta basado en tecnicas interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas de usar un interferometro de doble ventana con rejilla de fase y modulacion en polarizacion para estudio de objetos de fase delgada, que esten estaticos y en movimiento, esto ultimo se logra obteniendo los corrimientos de fase necesarios en una sola toma. En primera instancia se analizan las caracteristicas de difraccion de las rejillas de fase y los efectos que generan en los patrones de interferencia en un interferometro de doble ventana. Los corrimientos de fase necesarios...
El estudio que se presenta esta basado en tecnicas interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas de usar un interferometro de dobl...
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las caracteristicas de diversos tipos de rejillas de difraccion, a traves del estudio de el espectro de difraccion que generan y de los patrones de Ronchi caracteristicos de cada uno de ellas. El modelado teorico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a traves del modelado teorico se llevaran a la practica mediante la...
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las caracteristicas de diversos tipos de rejillas de difraccion, a traves d...