ISBN-13: 9783846570302 / Hiszpański / Miękka / 2011 / 92 str.
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las caracteristicas de diversos tipos de rejillas de difraccion, a traves del estudio de el espectro de difraccion que generan y de los patrones de Ronchi caracteristicos de cada uno de ellas. El modelado teorico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a traves del modelado teorico se llevaran a la practica mediante la construccion de las rejillas simuladas, impresas sobre acetato corriente desde una impresora laser. La caracterizacion de las rejillas mediante el modelado teorico de las rejillas y de los patrones de Ronchi junto con la validacion experimental es el objetivo mas importante de este trabajo, quedando como objetivo secundario pero no menos importante algunas aplicaciones de las rejillas construidas."
El objetivo fundamental del trabajo que se presenta consiste en establecer las características de diversos tipos de rejillas de difracción, a través del estudio de el espectro de difracción que generan y de los patrones de Ronchi característicos de cada uno de ellas. El modelado teórico de las rejillas se lleva acabo aplicando dos enfoques comparativos: uno que considera componentes espaciales para generar el perfil de las rejillas y otro que genera el perfil con componentes frecuenciales. Los resultados obtenidos a través del modelado teórico se llevaran a la práctica mediante la construcción de las rejillas simuladas, impresas sobre acetato corriente desde una impresora láser. La caracterización de las rejillas mediante el modelado teórico de las rejillas y de los patrones de Ronchi junto con la validación experimental es el objetivo más importante de este trabajo, quedando como objetivo secundario pero no menos importante algunas aplicaciones de las rejillas construidas.