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Utilisation du langage XBRL, opportunité de son adaptation en Tunisie
ISBN: 9783841778734 / Francuski / Miękka / 2016 / 276 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
331,78 zł |
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Intégration avancée des systèmes de puissance
ISBN: 9786208822101 / Francuski / Miękka / 2025 / 60 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Électronique de puissance nouvelle génération : L'électronique de puissance, pilier des systèmes embarqués et des smart grids, vise aujourd'hui à concilier performance énergétique et compacité. Les défis majeurs résident dans la gestion des interactions multiphysiques (thermiques, magnétiques, CEM) induites par la miniaturisation et les hautes fréquences. Ce manuscrit explore les leviers d'optimisation : les topologies innovantes de convertisseurs, la fiabilité accrue des semi-conducteurs, la modélisation multiéchelle et la maîtrise des perturbations électromagnétiques.Une...
Électronique de puissance nouvelle génération : L'électronique de puissance, pilier des systèmes embarqués et des smart grids, vise aujourd'hui ...
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cena:
196,82 zł |
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Controlling the aging of power transistors
ISBN: 9786208939458 / Angielski / Miękka / 2025 / 88 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained highlight reliable degradation indicators and open up interesting prospects for the design of more resistant electronic systems in extreme environments.
This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology...
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cena:
273,04 zł |
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Controllo dell'invecchiamento dei transistor di potenza
ISBN: 9786208939472 / Włoski / Miękka / 2025 / 88 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
273,04 zł |
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Die Alterung von Leistungstransistoren beherrschen
ISBN: 9786208939441 / Niemiecki / Miękka / 2025 / 92 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Dieses Buch enthält eine umfassende experimentelle Studie über das Verhalten von SiC-JFET-Transistoren für anspruchsvolle Anwendungen in der Luftfahrt. Wir beschreiben eine umfassende Methodik, die das Design eines automatisierten Prüfstandes über LabView, die Durchführung von Robustheitstests zur Bestimmung der kritischen Energie sowie beschleunigte Alterungsversuche zur Verfolgung der Entwicklung der elektrischen Parameter umfasst. Die Ergebnisse zeigen zuverlässige Degradationsindikatoren auf und eröffnen interessante Perspektiven für die Konzeption von widerstandsfähigeren...
Dieses Buch enthält eine umfassende experimentelle Studie über das Verhalten von SiC-JFET-Transistoren für anspruchsvolle Anwendungen in der Luftfa...
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cena:
273,04 zł |
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Kontrola starzenia sie tranzystorów mocy
ISBN: 9786208939489 / Polski / Miękka / 2025 / 88 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
cena:
273,04 zł |
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Maîtriser le Vieillissement des Transistors de Puissance
ISBN: 9786208822989 / Francuski / Miękka / 2025 / 92 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Cet ouvrage présente une étude expérimentale approfondie du comportement des transistors JFET SiC destinés aux applications aéronautiques exigeantes. Nous y décrivons une méthodologie complète incluant la conception d'un banc d'essais automatisé via LabView, la réalisation de tests de robustesse pour déterminer l'énergie critique, ainsi que des essais de vieillissement accéléré permettant de suivre l'évolution des paramètres électriques. Les résultats obtenus mettent en évidence des indicateurs de dégradation fiables et ouvrent des perspectives intéressantes pour la...
Cet ouvrage présente une étude expérimentale approfondie du comportement des transistors JFET SiC destinés aux applications aéronautiques exigean...
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cena:
273,04 zł |
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Numerical Treatment of Differential and Integral Equations
ISBN: 9783846523742 / Angielski / Miękka / 84 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Numerical methods for solving ordinary and partial differential equations have always been important in scientific investigations. With the advent of computers, the use of numerical methods has been popularized, and more importantly, people are now able to tackle those problems which are fundamental to our understanding of scientific phenomena, but were so much more difficult to study in the past. Spectral methods is the name given to a numerical approach for the solution of differential, integral and integro equations. Our intension in this book is to develop formulas which are new to the...
Numerical methods for solving ordinary and partial differential equations have always been important in scientific investigations. With the advent of ...
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cena:
219,69 zł |
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