wyszukanych pozycji: 2
Strategies to Reduce Power during VLSI Circuit Testing : Reduction of Dynamic and Leakage Power during Testing of Digital VLSI Circuits
ISBN: 9783659255205 / Angielski / Miękka / 2012 / 116 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
224,32 zł |
Development of OCR Techniques for Handwritten Bangla Text
ISBN: 9783848430802 / Angielski / Miękka / 2012 / 192 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych. |
|
cena:
311,30 zł |