• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Philippe Pougnet » książki

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2950560]
• Literatura piękna
 [1849509]

  więcej...
• Turystyka
 [71097]
• Informatyka
 [151150]
• Komiksy
 [35848]
• Encyklopedie
 [23178]
• Dziecięca
 [617388]
• Hobby
 [139064]
• AudioBooki
 [1657]
• Literatura faktu
 [228597]
• Muzyka CD
 [383]
• Słowniki
 [2855]
• Inne
 [445295]
• Kalendarze
 [1464]
• Podręczniki
 [167547]
• Poradniki
 [480102]
• Religia
 [510749]
• Czasopisma
 [516]
• Sport
 [61293]
• Sztuka
 [243352]
• CD, DVD, Video
 [3414]
• Technologie
 [219456]
• Zdrowie
 [101002]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2311]
• Puzzle, gry
 [3459]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8079]
Kategorie szczegółowe BISAC

Wyniki wyszukiwania:

wyszukanych pozycji: 2

Dostępność:
Kategoria:
Dostępny język:
Cena:
od:
do:
ilość na stronie:


 Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light Dahoo, Pierre–Richard; Pougnet, Philippe; El Hami, Abdelkhalak 9781848219366
Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

ISBN: 9781848219366 / Angielski / Twarda / 2016 / 316 str.

ISBN: 9781848219366/Angielski/Twarda/2016/316 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 30 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.)
Pierre–Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Combining experimental techniques of polarized light analysis with techniques based on theoretical or statistical models to study faults or buried interfaces of mechatronic systems, the authors define the range of validity of measurements of carbon nanotube properties. The combination of theory and pratical methods presented throughout this book provide the...

This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and inte...
cena: 672,22

 Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method Pierre Richard Dahoo Philippe Pougnet Abdelkhalak E 9781786306876
Applications and Metrology at Nanometer-Scale 2: Measurement Systems, Quantum Engineering and Rbdo Method

ISBN: 9781786306876 / Angielski / Twarda / 2021 / 288 str.

ISBN: 9781786306876/Angielski/Twarda/2021/288 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 16-18 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.)
Pierre Richard Dahoo; Philippe Pougnet; Abdelkhalak El Hami
cena: 757,55


Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia