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Técnicas para lidar com a recuperação de fuga na última fase e queda dinâmica de IR
ISBN: 9786209343254 / Portugalski / Miękka / 2025 / 104 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
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Tecniche per affrontare il recupero delle perdite nell'ultimo stadio e il calo dinamico dell'IR
ISBN: 9786209340697 / Włoski / Miękka / 2025 / 104 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
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Techniki radzenia sobie z wyciekiem w ostatnim etapie i dynamicznym spadkiem IR
ISBN: 9786209330452 / Polski / Miękka / 2025 / 108 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) |
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Techniken zur Behebung von Leckstromverlusten in der letzten Stufe und dynamischen IR-Abfällen
ISBN: 9786209333019 / Niemiecki / Miękka / 2025 / 108 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) In dieser Monografie werden die Probleme der Leckstromleistung, der Stromintegrität aufgrund von Ersatzzellen und Spitzen-IR-Abfällen behandelt. Der Umfang der vorgeschlagenen Lösung liegt auf der Ebene des physikalischen Designs nahe dem Designabschluss, wo Optimierungswerkzeuge nur über begrenzte Ressourcen zur Behebung dieser Probleme verfügen. Es gibt jedoch viel Spielraum für zukünftige Arbeiten in anderen Bereichen des Low-PM-Spektrums, wie z. B. auf Schaltungsebene, Architekturebene, Design-Ebene und Software-Codierungsebene. Die meisten heutigen Halbleiterentwickler sind...
In dieser Monografie werden die Probleme der Leckstromleistung, der Stromintegrität aufgrund von Ersatzzellen und Spitzen-IR-Abfällen behandelt. Der...
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Techniques pour traiter la récupération des fuites en phase finale et la chute de tension dynamique
ISBN: 9786209335570 / Francuski / Miękka / 2025 / 108 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) Cette monographie traite respectivement des problèmes liés à la puissance de fuite, à l'intégrité de l'alimentation due aux cellules de réserve et à la chute de tension maximale. La solution proposée s'inscrit dans le cadre de la conception physique, à un stade proche de la finalisation, où les outils d'optimisation disposent de ressources limitées pour résoudre ces problèmes. Cependant, il existe un vaste champ d'action pour des travaux futurs dans d'autres domaines du spectre à faible PM, tels que le niveau des circuits, le niveau architectural, le niveau de conception et le...
Cette monographie traite respectivement des problèmes liés à la puissance de fuite, à l'intégrité de l'alimentation due aux cellules de réserve...
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Techniques to address Last Stage Leakage Recovery and Dynamic IR Drop
ISBN: 9783659713910 / Angielski / Miękka / 2015 / 116 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami) The leakage power, power integrity challenges due to spare cells and peak IR drop respectively are addressed in this monograph. The scope of the solution proposed lies in the Physical design level near to design closure where optimization tools have tight resources to fix these challenges. However, there is a lot of scope for future work in other areas of low PM spectrum like at circuit level, architectural level, design level and software coding level. Majority of today's semiconductor designers are not moved to very recent techniques like gate array ECO flows using ECO kits provided by...
The leakage power, power integrity challenges due to spare cells and peak IR drop respectively are addressed in this monograph. The scope of the solut...
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