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La microscopie à force atomique (AFM) peut être utilisée pour la caractérisation de surfaces à l'échelle atomique et nanométrique dans des environnements aériens et liquides. L'AFM est essentiellement utilisé pour mesurer les propriétés mécaniques, chimiques et biologiques de l'échantillon étudié. L'AFM est composé d'un microcantilever excité par la base avec une nanopointe et d'un circuit de détection pour le balayage des images. La conception et l'analyse de ces microcantilevers est une tâche difficile dans la pratique en temps réel. Dans le présent travail, la...

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) kann zur Charakterisierung von Oberflächen auf atomarer und nanoskaliger Ebene sowohl in Luft als auch in Flüssigkeiten eingesetzt werden. AFM wird grundsätzlich zur Messung der mechanischen, chemischen und biologischen Eigenschaften der untersuchten Probe verwendet. Das AFM besteht im Wesentlichen aus einem basiserregten Mikroantilever mit einer Nanospitze und einem Abtastschaltkreis für das Scannen von Bildern. Das Design und die Analyse dieses Mikroantilevers ist eine anspruchsvolle Aufgabe in der Praxis. Die vorliegende Arbeit befasst sich mit dem...