wyszukanych pozycji: 4
![]() |
Progress in Materials Analysis: Vol. 1
ISBN: 9783211817599 / Angielski / Miękka / 1983 / 349 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.) The 11th Colloquium on Metallurgical Analysis - a joint venture of the Institute of Analytical Chemistry of the Technical University in Vienna, the Austrian Society for Analytical Chemistry and Microchemistry, the German Metals Society (DGM), and the Society of German Iron and Steel Engineers (VDEh) - was attended by 120 scientists from 12 nations. The major topics covered were surface, micro and trace analysis of materials with a heavy emphasis on metals. According to the strategy of the meeting attention was focussed on an interdisciplinary approach to materials science - combining...
The 11th Colloquium on Metallurgical Analysis - a joint venture of the Institute of Analytical Chemistry of the Technical University in Vienna, the Au...
|
cena:
201,24 |
![]() |
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
ISBN: 9783642701788 / Niemiecki / Miękka / 2011 / 302 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.) In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflachenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Masse fur die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und haufig mit einander kombiniert werden, namlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfasst, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter schiedlichen Spezialkenntnissen zuruck. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver mittlung von theoretischem und...
In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflachenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Masse...
|
cena:
282,12 |
![]() |
Progress in Materials Analysis: Vol. 2
ISBN: 9783211819050 / Angielski / Miękka / 1985 / 382 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.) Vol. 2 of "Progress in Materials Analysis" contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top level international participation from industry and research insti tutions the proceedings offer a survey of the present state and current trends in materials analysis of high actuality. The major topics covered are surface, micro and trace analysis of materials with a special emphasis on metals but also including other materials like ceramics, semiconductors, polymers. According to the strategy of the meeting attention is focussed on an...
Vol. 2 of "Progress in Materials Analysis" contains the lectures of the 12th Colloquium on Materials Analysis, Vienna, May 13-15, 1985. Due to the top...
|
cena:
201,24 |
![]() |
Angewandte Oberfl?chenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
ISBN: 9783112702666 / Niemiecki Termin realizacji zamówienia: ok. 30 dni roboczych (Dostawa w 2026 r.) |
cena:
548,16 |