• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Eighteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 6-8, 1969 » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 40 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 40 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [3084096]
• Literatura piękna
 [1815352]

  więcej...
• Turystyka
 [52522]
• Informatyka
 [156278]
• Komiksy
 [36326]
• Encyklopedie
 [23165]
• Dziecięca
 [613168]
• Hobby
 [104978]
• AudioBooki
 [1531]
• Literatura faktu
 [195077]
• Muzyka CD
 [282]
• Słowniki
 [2952]
• Inne
 [440561]
• Kalendarze
 [462]
• Podręczniki
 [166076]
• Poradniki
 [421881]
• Religia
 [509575]
• Czasopisma
 [472]
• Sport
 [61202]
• Sztuka
 [248934]
• CD, DVD, Video
 [3353]
• Technologie
 [230645]
• Zdrowie
 [98576]
• Książkowe Klimaty
 [126]
• Zabawki
 [2518]
• Puzzle, gry
 [3467]
• Literatura w języku ukraińskim
 [276]
• Art. papiernicze i szkolne
 [6687]
Kategorie szczegółowe BISAC

Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Eighteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 6-8, 1969

ISBN-13: 9781461399650 / Angielski / Miękka / 2012 / 682 str.

Burton Henke
Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Eighteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 6-8, 1969 Henke, Burton 9781461399650 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Advances in X-Ray Analysis: Proceedings of the Eighteenth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held August 6-8, 1969

ISBN-13: 9781461399650 / Angielski / Miękka / 2012 / 682 str.

Burton Henke
cena 202,19
(netto: 192,56 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 192,74
Termin realizacji zamówienia:
ok. 16-18 dni roboczych.

Darmowa dostawa!

This conference has attempted to achieve a balance in the presentation of papers on the application of current methods to established problem areas and on the introduction of new methods and applications. It has recognized the relevance of papers on basic physics and chemistry and on the total interaction of x-r s with matter. In order to achieve sufficient depth, a topic is chosen each year for special emphasis. This conference had as its central theme, "The Interactions and Applications of Low Energy X-R s." Those who were invited as speakers and as contributors to this volume are among the outstanding workers in the application of low energy x-ray and the associated photo-Auger electron interactions. These include A. K. Baird and W. L. Baun on Light Element Analysis and Long Wavelength Instrumentation; J. E. Hollid, D. W. Fischer, R. J. Liefeld and D. J. Nagel on Bonding and Valence State; H. Friedman and W. P. Reidy on X-R Astronomy; and R. Nordberg on Photo-Auger Electron Spectroscopy. Upon reading over the papers as presented here, one cannot help but be impressed by the steady, dynamic growth and expansion of the field of applied x-ray analysis, beginning about thirty years ago with quantitative elementary analysis and extending to the present time with dramatic and exciting applications to x-r astronomy. It has been most appropriate and indeed a privilege to have Dr. Herbert Friedman as a speaker and contributor to this volume.

Kategorie:
Nauka, Chemia
Kategorie BISAC:
Science > Chemia - Fizyczna
Wydawca:
Springer
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781461399650
Rok wydania:
2012
Wydanie:
Softcover Repri
Ilość stron:
682
Waga:
1.30 kg
Wymiary:
25.4 x 17.8
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Wydanie ilustrowane

An Introduction to Low Energy X-Ray and Electron Analysis.- Light Element Analysis.- Detection and Spectroscopy of Long Wavelength X-Rays.- Quantitative X-Ray Fluorescence Analysis with Variable Take-Off Angle.- Evaluation of Soft and Hard Scattered X-Rays as an Internal Standard for Light Element Analysis.- An Improved X-Ray Fluorescence Method for the Analysis of Museum Objects.- On-Stream Analysis of Liquid Samples Containing Elements of High and Low Atomic Number by X-Ray Fluorescence with Air and Vacuum Spectrograph.- Simultaneous X-Ray Emission Analysis of P, Si, Ca, Fe, Al, and Mg in Phosphate Rock Using a Small Computer to Correct for Matrix Variations.- Soft X-Ray Valence State Effects in Conductors.- Chemical Bonding and Valence State—Nonmetals.- Interpretation of Valence Band X-Ray Spectra.- A Vacuum Spectrometer for Studying the Chemical Effect on Soft X-Ray Spectra.- Point Scattering Theory of X-Ray K-Absorption Fine Structure.- A Versatile Vacuum Scanning Double Crystal Spectrometer for Soft X-Ray Absorption Edge Studies.- X-Ray Astronomy.- X-Ray Instrumentation for Space Experiments.- System for Non-Dispersive Analysis of Lunar X-Rays from Apollo.- Development of a Slitless Spectrograph for X-Ray Astronomy.- X-Ray Interaction Coefficients: Effect on Interpretation of Solar X-Ray Data.- X-Ray Spectrometry Properties of Potassium Acid Phthalate Crystals.- Grating Studies at X-Ray Wavelengths.- Electron Spectroscopy for Studying Chemical Bonding.- IEE — A New Type of X-Ray Photoelectron Spectrometer.- ?-Excited Auger Spectra.- The Application of X-Ray Data to the Determination of Atomic Energy Levels.- On the Symmetry of Orientation Distribution in Crystal Aggregates.- Automated Lattice Parameter Determination on Single Crystals.- Correlation of Residual Stress Level and Fatigue Damage in B. C. C. Metals.- Application of the X-Ray Two-Exposure Stress Measuring Technique to a Carburized Steel.- X-Ray Diffraction from Vibrating Quartz Plates.- X-Ray Topographic Study of Vibrating Dislocations in Ice under an AC Electric Field.- An Approach to the Solid Solution Problem Using a Computerized Identification Technique.- A Versatile Bragg-Brentano/Seeman-Bohlin Powder Diffractometer.- Measurement of Long Range Order in ?’ Phase of Nickel-Base Superalloys.- Measurement of the Molecular Size of a Sodium Humate Fraction.- A New Absolute-Scale Small-Angle X-Ray Scattering Instrument.- Mass Absorption Coefficient Measurements Using Thin Films.- X-Ray Absorption Tables for the 2-to-200 a Region.- Author Index.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia