wyszukanych pozycji: 2
| |
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond
ISBN: 9788770221122 / Angielski / Twarda / 2019 / 250 str. Termin realizacji zamówienia: ok. 16-18 dni roboczych. |
cena:
477,93 |
| |
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond
ISBN: 9788770043564 / Angielski Termin realizacji zamówienia: ok. 16-18 dni roboczych. |
cena:
211,84 |