• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Alfred Stein » książki

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

Wyniki wyszukiwania:

wyszukanych pozycji: 13

Dostępność:
Kategoria:
Dostępny język:
Cena:
od:
do:
ilość na stronie:


 Quality Aspects in Spatial Data Mining Alfred Stein Wenzhong Shi Wietske Bijker 9780367386320
Quality Aspects in Spatial Data Mining

ISBN: 9780367386320 / Angielski / Miękka / 2019 / 374 str.

ISBN: 9780367386320/Angielski/Miękka/2019/374 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Alfred Stein; Wenzhong Shi; Wietske Bijker
cena: 321,23

 Quality Aspects in Spatial Data Mining Alfred Stein John Shi Wietske Bijker 9781420069266
Quality Aspects in Spatial Data Mining

ISBN: 9781420069266 / Angielski / Twarda / 2008 / 374 str.

ISBN: 9781420069266/Angielski/Twarda/2008/374 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Alfred Stein; John Shi; Wietske Bijker

Describes the State-of-the-Art in Spatial Data Mining, Focuses on Data Quality

Substantial progress has been made toward developing effective techniques for spatial information processing in recent years. This science deals with models of reality in a GIS, however, and not with reality itself. Therefore, spatial information processes are often imprecise, allowing for much interpretation of abstract figures and data. Quality Aspects in Spatial Data Mining introduces practical and theoretical solutions for making sense of the often chaotic and overwhelming amount of concrete data...

Describes the State-of-the-Art in Spatial Data Mining, Focuses on Data Quality

Substantial progress has been made toward developing effective te...

cena: 778,85

 Super Resolutie Mapping van Bomen van Satellietbeelden Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924766
Super Resolutie Mapping van Bomen van Satellietbeelden

ISBN: 9786200924766 / Holenderski / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924766/Holenderski/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Super Resolution Mapping of Trees from Satellite Images Nixon, Nduji; Tolpekin, Valentyn; Stein, Alfred 9786134969352
Super Resolution Mapping of Trees from Satellite Images

ISBN: 9786134969352 / Angielski / Miękka / 2018 / 68 str.

ISBN: 9786134969352/Angielski/Miękka/2018/68 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon; Valentyn Tolpekin; Alfred Stein
cena: 160,95

 Superauflösende Kartierung von Bäumen aus Satellitenbildern Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924711
Superauflösende Kartierung von Bäumen aus Satellitenbildern

ISBN: 9786200924711 / Niemiecki / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924711/Niemiecki/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Mapeamento de Super Resolução de Árvores a partir de Imagens de Satélite Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924759
Mapeamento de Super Resolução de Árvores a partir de Imagens de Satélite

ISBN: 9786200924759 / Portugalski / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924759/Portugalski/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Superrozdzielcze mapowanie drzew z obrazów satelitarnych Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924827
Superrozdzielcze mapowanie drzew z obrazów satelitarnych

ISBN: 9786200924827 / Polski / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924827/Polski/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Mapeo de árboles en súper resolución a partir de imágenes satelitales Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924742
Mapeo de árboles en súper resolución a partir de imágenes satelitales

ISBN: 9786200924742 / Hiszpański / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924742/Hiszpański/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Mappatura in super risoluzione di alberi da immagini satellitari Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924797
Mappatura in super risoluzione di alberi da immagini satellitari

ISBN: 9786200924797 / Włoski / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924797/Włoski/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Cartographie à super résolution des arbres à partir d'images satellites Nduji Nixon, Valentyn Tolpekin, Alfred Stein 9786200924728
Cartographie à super résolution des arbres à partir d'images satellites

ISBN: 9786200924728 / Francuski / Miękka / 2020 / 76 str.

ISBN: 9786200924728/Francuski/Miękka/2020/76 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 10-14 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Nduji Nixon;Valentyn Tolpekin;Alfred Stein
cena: 120,60

 Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data Shi Wenzhong Bo Wu Alfred Stein 9781498733281
Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data

ISBN: 9781498733281 / Angielski / Twarda / 2015 / 320 str.

ISBN: 9781498733281/Angielski/Twarda/2015/320 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Shi Wenzhong; Bo Wu; Alfred Stein

Offers New Insight on Uncertainty Modelling

Focused on major research relative to spatial information, Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data introduces methods for managing uncertainties such as data of questionable quality in geographic information science (GIS) applications. By using original research, current advancement, and emerging developments in the field, the authors compile various aspects of spatial data quality control. From multidimensional and multi-scale data integration to uncertainties in spatial data...

Offers New Insight on Uncertainty Modelling

Focused on major research relative to spatial information, Unc...

cena: 705,83

 Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data Shi Wenzhong Bo Wu Alfred Stein 9780367377144
Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data

ISBN: 9780367377144 / Angielski / Miękka / 2019 / 320 str.

ISBN: 9780367377144/Angielski/Miękka/2019/320 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Shi Wenzhong; Bo Wu; Alfred Stein
cena: 321,23

 Spatial Statistics for Remote Sensing Alfred Stein Freek D. Va Ben Gorte 9781402005510
Spatial Statistics for Remote Sensing

ISBN: 9781402005510 / Angielski / Miękka / 2002 / 284 str.

ISBN: 9781402005510/Angielski/Miękka/2002/284 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Alfred Stein; Freek D. Van Der Meer; Ben Gorte
This book is a collection of papers on spatial statistics for remote sensing. The book emerges from a study day that was organized in 1996 at the International Institute for Aerospace Survey and Earth Sciences, ITC, in Enschede, The Netherlands. It was by several means a memorable event. The beautiful new building, according to a design by the famous modern Dutch architect Max van Huet was just opened, and this workshop was the first to take place there. Of course, much went wrong during the workshop, in particular as the newest electronic equipment regularly failed. But the workshop...
This book is a collection of papers on spatial statistics for remote sensing. The book emerges from a study day that was organized in 1996 at the Inte...
cena: 605,23


Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia