• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Self-Healing Integrated Circuits » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946350]
• Literatura piękna
 [1816154]

  więcej...
• Turystyka
 [70666]
• Informatyka
 [151172]
• Komiksy
 [35576]
• Encyklopedie
 [23172]
• Dziecięca
 [611458]
• Hobby
 [135995]
• AudioBooki
 [1726]
• Literatura faktu
 [225763]
• Muzyka CD
 [378]
• Słowniki
 [2917]
• Inne
 [444280]
• Kalendarze
 [1179]
• Podręczniki
 [166508]
• Poradniki
 [469467]
• Religia
 [507199]
• Czasopisma
 [496]
• Sport
 [61352]
• Sztuka
 [242330]
• CD, DVD, Video
 [3348]
• Technologie
 [219391]
• Zdrowie
 [98638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2382]
• Puzzle, gry
 [3525]
• Literatura w języku ukraińskim
 [259]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7107]
Kategorie szczegółowe BISAC

Self-Healing Integrated Circuits

ISBN-13: 9783838133669 / Angielski / Miękka / 2012 / 156 str.

Thomas Panhofer
Self-Healing Integrated Circuits Thomas Panhofer 9783838133669 S Dwestdeutscher Verlag F R Hochschulschrifte - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Self-Healing Integrated Circuits

ISBN-13: 9783838133669 / Angielski / Miękka / 2012 / 156 str.

Thomas Panhofer
cena 312,66
(netto: 297,77 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 311,93
Termin realizacji zamówienia:
ok. 10-14 dni roboczych.

Darmowa dostawa!

Advancing miniaturization, higher integration, reduced supply voltage and other changing parameters of modern integrated digital logic devices lead to situations where fault effects, that previously were an issue only in extremely harsh environments, e.g. as seen in space missions, are now impacting the circuits also in normal environments. The diverging trend - increasing complexity vs. decreasing reliability - is getting a serious problem for high reliability applications. In particular if a repair is very expensive or even impossible, the trend goes towards adaptive systems that can autonomously cope with failure situations as they arise. The author presents a self-healing concept which is based on asynchronous Quasi-Delay Insensitive (QDI) logic. This design style is beneficial for the development of a fault tolerant system, as it features e.g. fail-stop behavior without additional effort. Methods for autonomous fault diagnosis and subsequent repair are systematically established and assessed by means of different simulation models and representative target circuits. The effectiveness of the approach is finally verified by hardware fault injection experiments.

Advancing miniaturization, higher integration, reduced supply voltage and other changing parameters of modern integrated digital logic devices lead to situations where fault effects, that previously were an issue only in extremely harsh environments, e.g. as seen in space missions, are now impacting the circuits also in normal environments. The diverging trend - increasing complexity vs. decreasing reliability - is getting a serious problem for high reliability applications. In particular if a repair is very expensive or even impossible, the trend goes towards adaptive systems that can autonomously cope with failure situations as they arise. The author presents a self-healing concept which is based on asynchronous Quasi-Delay Insensitive (QDI) logic. This design style is beneficial for the development of a fault tolerant system, as it features e.g. fail-stop behavior without additional effort. Methods for autonomous fault diagnosis and subsequent repair are systematically established and assessed by means of different simulation models and representative target circuits. The effectiveness of the approach is finally verified by hardware fault injection experiments.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - General
Wydawca:
S Dwestdeutscher Verlag F R Hochschulschrifte
Język:
Angielski
ISBN-13:
9783838133669
Rok wydania:
2012
Ilość stron:
156
Waga:
0.23 kg
Wymiary:
22.86 x 15.24 x 0.91
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Panhofer, ThomasThe author was born in 1978 and has been working in the space industry since 1998. He received a diploma degree in Technical Project- and Process Management from the University of Applied Science FH-Campus Wien and his doctor's degree in Computer Engineering from the Vienna University of Technology.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia