• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

ISBN-13: 9780387400907 / Angielski / Twarda / 2006 / 282 str.

Andrew J. Fisher; Werner Hofer; Adam Foster
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents Foster, Adam 9780387400907 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents

ISBN-13: 9780387400907 / Angielski / Twarda / 2006 / 282 str.

Andrew J. Fisher; Werner Hofer; Adam Foster
cena 666,07 zł
(netto: 634,35 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 578,30 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 30 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today's simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data. Key Features

  • Serves as a comprehensive source of information for researchers, teachers, and students about the theory underlying the rapidly expanding field of scanning probe microscopy
  • Provides a framework for linking scanning probe theory and simulations with experimental data
  • Written in the style of a textbook with step-by-step examples of how theoretical concepts are used to generate state-of-the-art simulations

Kategorie:
Nauka, Fizyka
Kategorie BISAC:
Science > Electron Microscopes & Microscopy
Technology & Engineering > Materials Science - Thin Films, Surfaces & Interfaces
Technology & Engineering > Nanotechnology & MEMS
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Nanoscience and Technology
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780387400907
Rok wydania:
2006
Wydanie:
and
Numer serii:
000084011
Ilość stron:
282
Waga:
1.31 kg
Wymiary:
23.5 x 15.5
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia
Wydanie ilustrowane

The Physics of Scanning Probe Microscopes.- SPM: The Instrument.- Theory of Forces.- Electron Transport Theory.- Transport in the Low Conductance Regime.- Bringing Theory to Experiment in SFM.- Topographic images.- Single-Molecule Chemistry.- Current and Force Spectroscopy.- Outlook.

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Written in the style of a textbook, it explains from scratch the theory behind today’s simulation techniques and gives examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations used in today’s research, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the instrument's operation is changed by materials properties; theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia