ISBN-13: 9786131568060 / Francuski / Miękka / 2018 / 144 str.
La mise en place des premiA]res constellations de satellites pour les tA(c)lA(c)communications et la tendance gA(c)nA(c)rale A utiliser des composants commerciaux pose le problA]me de la vulnA(c)rabilitA(c) et de la durA(c)e de vie des composants de type MOS A l''effet de dose. Lors de ces missions, l''utilisation gA(c)nA(c)ralisA(c)e de composants commerciaux passe par une sA(c)lection qui doit faire l''objet d''une attention toute particuliA]re. Le travail prA(c)sentA(c) ici concerne la mise en place d''une mA(c)thodologie de tri de ces composants qui s''appuie sur la relaxation thermique des charges piA(c)gA(c)es dans le volume de l''oxyde. AprA]s avoir prA(c)sentA(c) les phA(c)nomA]nes physiques A l''origine des dA(c)gradations induites par les rayonnements ionisants dans les isolants, nous donnons les bases d''une mA(c)thode de qualification des composants qui prend en compte les spA(c)cificitA(c)s de l''oxyde et les paramA]tres de la mission. Le domaine de validitA(c) de la mA(c)thode et les prA(c)cautions A prendre lors de l''interprA(c)tation des rA(c)sultats sont ensuite analysA(c)s. Dans la derniA]re partie, nous avons abordA(c) l''influence du champ A(c)lectrique sur les processus qui rA(c)gissent le comportement des composants irradiA(c)s.
La mise en place des premières constellations de satellites pour les télécommunications et la tendance générale à utiliser des composants commerciaux pose le problème de la vulnérabilité et de la durée de vie des composants de type MOS à leffet de dose. Lors de ces missions, lutilisation généralisée de composants commerciaux passe par une sélection qui doit faire lobjet dune attention toute particulière. Le travail présenté ici concerne la mise en place dune méthodologie de tri de ces composants qui sappuie sur la relaxation thermique des charges piégées dans le volume de loxyde. Après avoir présenté les phénomènes physiques à lorigine des dégradations induites par les rayonnements ionisants dans les isolants, nous donnons les bases dune méthode de qualification des composants qui prend en compte les spécificités de loxyde et les paramètres de la mission. Le domaine de validité de la méthode et les précautions à prendre lors de linterprétation des résultats sont ensuite analysés. Dans la dernière partie, nous avons abordé linfluence du champ électrique sur les processus qui régissent le comportement des composants irradiés.