On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond » książka
topmenu
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond
ISBN-13: 9788770043564 / Angielski
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the MM-Wave Range and Beyond
ISBN-13: 9788770043564 / Angielski
cena 222,99 zł
(netto: 212,37 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 222,56 zł
(netto: 212,37 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 222,56 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 16-18 dni roboczych
dostawa w 2025
ok. 16-18 dni roboczych
dostawa w 2025
Darmowa dostawa!
Kategorie BISAC:
Wydawca:
River Publishers
Język:
Angielski
ISBN-13:
9788770043564
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
