• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946912]
• Literatura piękna
 [1852311]

  więcej...
• Turystyka
 [71421]
• Informatyka
 [150889]
• Komiksy
 [35717]
• Encyklopedie
 [23177]
• Dziecięca
 [617324]
• Hobby
 [138808]
• AudioBooki
 [1671]
• Literatura faktu
 [228371]
• Muzyka CD
 [400]
• Słowniki
 [2841]
• Inne
 [445428]
• Kalendarze
 [1545]
• Podręczniki
 [166819]
• Poradniki
 [480180]
• Religia
 [510412]
• Czasopisma
 [525]
• Sport
 [61271]
• Sztuka
 [242929]
• CD, DVD, Video
 [3371]
• Technologie
 [219258]
• Zdrowie
 [100961]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2341]
• Puzzle, gry
 [3766]
• Literatura w języku ukraińskim
 [255]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7810]
Kategorie szczegółowe BISAC

Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

ISBN-13: 9789400730939 / Angielski / Miękka / 2012 / 257 str.

Hans-Joachim Wunderlich
Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault Hans-Joachim Wunderlich 9789400730939 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Models in Hardware Testing: Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault

ISBN-13: 9789400730939 / Angielski / Miękka / 2012 / 257 str.

Hans-Joachim Wunderlich
cena 401,58
(netto: 382,46 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 385,52
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!
inne wydania

Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.

Kategorie:
Informatyka, Sprzęt komputerowy
Kategorie BISAC:
Computers > Programming - General
Computers > Computer Simulation
Technology & Engineering > Electronics - Circuits - General
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Frontiers in Electronic Testing
Język:
Angielski
ISBN-13:
9789400730939
Rok wydania:
2012
Dostępne języki:
Angielski
Wydanie:
2010
Ilość stron:
257
Waga:
0.45 kg
Wymiary:
23.523.5 x 15.5
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Contributing Authors. Preface. To Christian: a Real Test & Taste Expert. From LAAS to LIRMM and Beyond.

1. Open Defects in Nanometer Technologies; J. Figueras, R. Rodríguez-Montañés, D. Arumí

2. Models for Bridging Defects; M. Renovell, F. Azais, J. Figueras, R. Rodriguez-Montanes, D. Arumi

3. Models for Delay Faults; S.M. Reddy

4. Fault Modeling for Simulation and ATPG; B.Becker, I.Polian

5. Generalized Fault Modeling for Logic Diagnosis; H.-J. Wunderlich, S. Holst

6. Models in Memory Testing; S.Di Carlo, P.Prinetto

7. Models for Power-Aware Testing; P.Girard, H.-J.Wunderlich

8. Physical Fault Models and Fault Tolerance; J.Arlat, Y.Crouzet

Index.

Model based testing is the most powerful technique for testing hardware and software systems. Models in Hardware Testing describes the use of models at all the levels of hardware testing. The relevant fault models for nanoscaled CMOS technology are introduced, and their implications on fault simulation, automatic test pattern generation, fault diagnosis, memory testing and power aware testing are discussed. Models and the corresponding algorithms are considered with respect to the most recent state of the art, and they are put into a historical context by a concluding chapter on the use of physical fault models in fault tolerance.

Models in Hardware Testing treats models and especially fault models in hardware testing in a comprehensive way not found anywhere else. Engineers who are responsible for product quality and test coverage, students who want to learn about quality assessment for new technologies or lecturers who are interested in the most recent advances in model based hardware testing will take benefits from reading.

The material collected in Models in Hardware Testing was prepared for the forum in honor of Christian Landrault in connection with the European Test Symposium 2009.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia