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La Diffraction Coh�rente Des Rayons X » książka

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Kategorie szczegółowe BISAC

La Diffraction Coh�rente Des Rayons X

ISBN-13: 9786131509230 / Francuski / Miękka / 2018 / 272 str.

Jacques-V
La Diffraction Coh�rente Des Rayons X Jacques-V 9786131509230 Omniscriptum - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

La Diffraction Coh�rente Des Rayons X

ISBN-13: 9786131509230 / Francuski / Miękka / 2018 / 272 str.

Jacques-V
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La diffraction cohA(c)rente des rayons X est une technique relativement rA(c)cente, qui permet de rA(c)aliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matiA]re dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l''espace rA(c)el A l''aide d''algorithmes basA(c)s sur des calculs de transformA(c)e de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut Aatre appliquA(c)e A l''A(c)tude de dA(c)fauts de phase isolA(c)s tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent Aatre reconstruits sans algorithme. Il apparaA(R)t que la technique peut en principe surpasser en rA(c)solution la topograhie X, technique de choix pour les A(c)tudes de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi A(c)tA(c) imagA(c)es. Nous montrons A(c)galement que de rA(c)elles conclusions physiques peuvent Aatre tirA(c)es, A travers l''A(c)tude de dA(c)fauts de phase de structures A(c)lectroniques dans des systA]mes dA(c)veloppant des ondes de densitA(c) de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdA]ne K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systA]mes A(c)tudiA(c)s dans ce travail. Un certain nombre de questions liA(c)es A la structure statique et dynamique de ces cristaux A(c)lectroniques sont soulevA(c)es, et des modA]les thA(c)oriques sont proposA(c)s.

La diffraction cohérente des rayons X est une technique relativement récente, qui permet de réaliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la matière dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de lespace réel à laide dalgorithmes basés sur des calculs de transformée de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut être appliquée à létude de défauts de phase isolés tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent être reconstruits sans algorithme. Il apparaît que la technique peut en principe surpasser en résolution la topograhie X, technique de choix pour les études de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi été imagées. Nous montrons également que de réelles conclusions physiques peuvent être tirées, à travers létude de défauts de phase de structures électroniques dans des systèmes développant des ondes de densité de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybdène K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des systèmes étudiés dans ce travail. Un certain nombre de questions liées à la structure statique et dynamique de ces cristaux électroniques sont soulevées, et des modèles théoriques sont proposés.

Kategorie:
Nauka, Fizyka
Kategorie BISAC:
Science > Fizyka
Literary Criticism > General
Wydawca:
Omniscriptum
Seria wydawnicza:
Omn.Univ.Europ.
Język:
Francuski
ISBN-13:
9786131509230
Rok wydania:
2018
Dostępne języki:
Francuski
Ilość stron:
272
Waga:
0.40 kg
Wymiary:
22.922.9 x 15.222.9 x 15.2 x 1
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Vincent Jacques, docteur en physique, diplômé du magistère de physique fondamentale et du M2 concepts fondamentaux de la physique parcours physique de la matière condensée à l'Université Paris XI d'Orsay, actuellement chercheur post-doctoral au synchrotron ESRF à Grenoble.



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