ISBN-13: 9786131510250 / Francuski / Miękka / 2018 / 224 str.
Les innovations en A(c)lectronique allient A la fois des critA]res de coAt, de performance et de taille. A l''A]re du tout numA(c)rique, les technologies CMOS sont confrontA(c)es A la stagnation de leurs performances A(c)lectriques, et les systA]mes hA(c)tA(c)rogA]nes multifonctions s''orientent vers une complexification extrAame de leurs architectures, augmentant leur coAt de conception. Les problA(c)matiques de performance A(c)lectrique et d''hA(c)tA(c)rogA(c)nA(c)itA(c) convergent vers un objectif commun. Une solution industriellement viable pour atteindre cet objectif d''architecture ultime est l''intA(c)gration 3D de circuits intA(c)grA(c)s. En empilant verticalement des circuits classiques aux fonctionnalitA(c)s diverses, cette architecture ouvre la voie A des systA]mes multifonctions miniaturisA(c)s dont les performances A(c)lectriques sont meilleures que l''existant. NA(c)anmoins, les technologies CMOS ne sont pas conAues pour Aatre intA(c)grA(c)es dans une architecture 3D. Ce livre traite de l''A(c)valuation de toute forme d''impact engendrA(c) par les technologies d''intA(c)gration 3D sur les performances des composants CMOS. Ces impacts sont classifiA(c)s en deux familles, d''origine thermomA(c)canique et A(c)lectrique.
Les innovations en électronique allient à la fois des critères de coût, de performance et de taille. A lère du tout numérique, les technologies CMOS sont confrontées à la stagnation de leurs performances électriques, et les systèmes hétérogènes multifonctions sorientent vers une complexification extrême de leurs architectures, augmentant leur coût de conception. Les problématiques de performance électrique et dhétérogénéité convergent vers un objectif commun. Une solution industriellement viable pour atteindre cet objectif darchitecture ultime est lintégration 3D de circuits intégrés. En empilant verticalement des circuits classiques aux fonctionnalités diverses, cette architecture ouvre la voie à des systèmes multifonctions miniaturisés dont les performances électriques sont meilleures que lexistant. Néanmoins, les technologies CMOS ne sont pas conçues pour être intégrées dans une architecture 3D. Ce livre traite de lévaluation de toute forme dimpact engendré par les technologies dintégration 3D sur les performances des composants CMOS. Ces impacts sont classifiés en deux familles, dorigine thermomécanique et électrique.