ISBN-13: 9783838179889 / Francuski / Miękka / 2018 / 232 str.
Ce travail vise a explorer la possibilite d'integrer des objets moleculaires et certains semi-conducteurs usuels en micro-electronique, au sein de dispositifs robustes et stables, soit a l'air soit en milieu aqueux. L'originalite de ce travail reside dans le choix du type de substrat (carbone amorphe) et la complementarite des procedes de greffage que nous avons mis en oeuvre. Le principal apport experimental de ce travail est la realisation d'un systeme d'evaporation de molecules dans un bati ultravide permettant le greffage des molecules dans des conditions de proprete optimales, ainsi que la caracterisation par XPS in situ des surfaces avant et apres greffage. Nous avons montre que le greffage en phase vapeur peut-etre realise a 230C sans hydrogenation et sans preparation prealable de la surface du carbone amorphe. La reflectivite de rayons X et les mesures XPS montrent l'assemblage d'une monocouche moleculaire, dont la robustesse a ete etablie par des recuits thermiques sous ultravide. Des caracterisations UPS et des mesures de transport electrique sur des interfaces modeles Si(111) - alcane ont permis de qualifier la qualite du greffage obtenu en phase vapeur sous ultravide.
Ce travail vise à explorer la possibilité dintégrer des objets moléculaires et certains semi-conducteurs usuels en micro-électronique, au sein de dispositifs robustes et stables, soit à lair soit en milieu aqueux. Loriginalité de ce travail réside dans le choix du type de substrat (carbone amorphe) et la complémentarité des procédés de greffage que nous avons mis en œuvre. Le principal apport expérimental de ce travail est la réalisation dun système dévaporation de molécules dans un bâti ultravide permettant le greffage des molécules dans des conditions de propreté optimales, ainsi que la caractérisation par XPS in situ des surfaces avant et après greffage. Nous avons montré que le greffage en phase vapeur peut-être réalisé à 230°C sans hydrogénation et sans préparation préalable de la surface du carbone amorphe. La réflectivité de rayons X et les mesures XPS montrent lassemblage dune monocouche moléculaire, dont la robustesse a été établie par des recuits thermiques sous ultravide. Des caractérisations UPS et des mesures de transport électrique sur des interfaces modèles Si(111) - alcane ont permis de qualifier la qualité du greffage obtenu en phase vapeur sous ultravide.