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Entwurf Selbsttestbarer Schaltungen » książka

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Kategorie szczegółowe BISAC

Entwurf Selbsttestbarer Schaltungen

ISBN-13: 9783815423141 / Niemiecki / Miękka / 1998 / 322 str.

Albrecht P. Str Le; Albrecht P. Strole
Entwurf Selbsttestbarer Schaltungen Ströle, Albrecht P. 9783815423141 Vieweg+teubner Verlag - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Entwurf Selbsttestbarer Schaltungen

ISBN-13: 9783815423141 / Niemiecki / Miękka / 1998 / 322 str.

Albrecht P. Str Le; Albrecht P. Strole
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Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung uber die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren."

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Engineering (General)
Wydawca:
Vieweg+teubner Verlag
Seria wydawnicza:
Teubner Texte Zur Informatik
Język:
Niemiecki
ISBN-13:
9783815423141
Rok wydania:
1998
Wydanie:
1998
Numer serii:
000440786
Ilość stron:
322
Waga:
0.51 kg
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

Testprobleme - Selbsttest als Lösung - Aufbau des Buches Defekte und Fehler Defekte bei der Halbleiterfertigung - Bestimmung der realistischen Fehler Teststrategien Schaltungsbeschreibung - Fehlermodelle und Testmuster - Verbesserung der Testbarkeit - Durchführung des Tests - Auswahl einer Teststrategie Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kampaktierung Rückgekoppelte Schieberegister - Zellulare Automaten - Multifunktionale Testregister - Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten Synthese selbsttestbarer Schaltungen Selbsttestbare Strukturen - Synthese leicht testbarer Steuerwerke - High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade - Optimaler Testregistereinbau - Planung des Testablaufs

Die heutige Halbleitertechnologie kann nicht garantieren, daß alle gefertigten Chips korrekt funktionieren, selbst wenn der Entwurf fehlerfrei ist. Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung über die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren. Für den Selbsttest werden alle notwendigen Hilfsmittel wie Testmustergeneratoren und Kompaktierer für die Testantworten in die Schaltung eingebaut, so daß der Chip sich autonom, ohne teure externe Geräte testen kann. Der Testablauf wird dann so geplant, daß viele Teilschaltungen gleichzeitig bearbeitet werden und der gesamte Chiptest nur kurze Zeit benötigt.



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