Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition, » książka

zaloguj się | załóż konto

topmenu

Szukaj

Książki na zamówienie

Wyszukiwanie zaawansowane

Pusty koszyk

Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka

[2946600]

• Literatura piękna

[1856966]

więcej...

Kategorie szczegółowe BISAC

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

Name: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,
Brand: CRC Press
Price: 321.89 PLN
Availability: InStock

ISBN-13: 9780367402945 / Angielski / Miękka / 2019 / 856 str.

Lawrence E. Murr

Electron and Ion Microscopy and Microanalysis: Principles and Applications, Second Edition,

ISBN-13: 9780367402945 / Angielski / Miękka / 2019 / 856 str.

Lawrence E. Murr

cena 321,89 zł
(netto: 306,56 VAT: 5%)

Najniższa cena z 30 dni: 302,19 zł

Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

The publication date of the first edition is not stated, but the new edition is apparently considerably revised and expanded. It was written to serve as a multi-purpose text at the senior or graduate level and as a reference for the practicing scientist or engineer. Readers should have a math backgr

Kategorie:

Technologie

Kategorie BISAC:

Technology & Engineering > Engineering (General)
Science > Electron Microscopes & Microscopy
Technology & Engineering > Lasers & Photonics

Wydawca:

CRC Press

Seria wydawnicza:

Optical Science and Engineering

Język:

Angielski

ISBN-13:

9780367402945

Rok wydania:

2019

Numer serii:

000154060

Ilość stron:

856

Waga:

1.44 kg

Wymiary:

25.15 x 17.53 x 4.83

Oprawa:

Miękka

Wolumenów:

CHAPTER 1: FUNDAMENTAL PROPERTIES OF ELECTRONS AND IONS. CHAPTER 2: ELECTRON EMISSION AND EMISSION AND IONIZATION MICROSCOPY. CHAPTER. 3: ELECTRON AND ION OPTICS AND OPTICAL SYSTEMS. CHAPTER 4: ELECTRON AND ION PROBE MICROANALYSIS. CHAPTER 5: ELECTRON AND ION MICROSCOPY OF SURFACES. CHAPTER 6: ELECTRON DIFFRACTION. CHAPTER 7: TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPY. CHAPTER 8: HIGH-VOLTAGE ELECTRON MICROSCOPY.

Lawrence E. Murr

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma

Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Zobacz:

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa