• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Electrical Characterization of Silicon-On-Insulator Materials and Devices » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949965]
• Literatura piękna
 [1857847]

  więcej...
• Turystyka
 [70818]
• Informatyka
 [151303]
• Komiksy
 [35733]
• Encyklopedie
 [23180]
• Dziecięca
 [617748]
• Hobby
 [139972]
• AudioBooki
 [1650]
• Literatura faktu
 [228361]
• Muzyka CD
 [398]
• Słowniki
 [2862]
• Inne
 [444732]
• Kalendarze
 [1620]
• Podręczniki
 [167233]
• Poradniki
 [482388]
• Religia
 [509867]
• Czasopisma
 [533]
• Sport
 [61361]
• Sztuka
 [243125]
• CD, DVD, Video
 [3451]
• Technologie
 [219309]
• Zdrowie
 [101347]
• Książkowe Klimaty
 [123]
• Zabawki
 [2362]
• Puzzle, gry
 [3791]
• Literatura w języku ukraińskim
 [253]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7933]
Kategorie szczegółowe BISAC

Electrical Characterization of Silicon-On-Insulator Materials and Devices

ISBN-13: 9781461359456 / Angielski / Miękka / 2014 / 381 str.

Sorin Cristoloveanu; Sheng Li
Electrical Characterization of Silicon-On-Insulator Materials and Devices Cristoloveanu, Sorin 9781461359456 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Electrical Characterization of Silicon-On-Insulator Materials and Devices

ISBN-13: 9781461359456 / Angielski / Miękka / 2014 / 381 str.

Sorin Cristoloveanu; Sheng Li
cena 806,99 zł
(netto: 768,56 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 771,08 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

Silicon on Insulator is more than a technology, more than a job, and more than a venture in microelectronics; it is something different and refreshing in device physics. This book recalls the activity and enthu- siasm of our SOl groups. Many contributing students have since then disappeared from the SOl horizon. Some of them believed that SOl was the great love of their scientific lives; others just considered SOl as a fantastic LEGO game for adults. We thank them all for kindly letting us imagine that we were guiding them. This book was very necessary to many people. SOl engineers will certainly be happy: indeed, if the performance of their SOl components is not always outstanding, they can now safely incriminate the relations given in the book rather than their process. Martine, Gunter, and Y. S. Chang can contemplate at last the amount of work they did with the figures. Our SOl accomplices already know how much we borrowed from their expertise and would find it indecent to have their detailed contri- butions listed. Jean-Pierre and Dimitris incited the book, while sharing their experience in the reliability of floating bodies. Our families and friends now realize the SOl capability of dielectrically isolating us for about two years in a BOX. Our kids encouraged us to start writing. Our wives definitely gave us the courage to stop writing. They had a hard time fighting the symptoms of a rapidly developing SOl allergy.

Kategorie:
Technologie
Kategorie BISAC:
Technology & Engineering > Electronics - Semiconductors
Technology & Engineering > Electrical
Technology & Engineering > Materials Science - Electronic Materials
Wydawca:
Springer
Seria wydawnicza:
Springer International Series in Engineering and Computer Sc
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781461359456
Rok wydania:
2014
Wydanie:
Softcover Repri
Numer serii:
000348000
Ilość stron:
381
Waga:
0.55 kg
Wymiary:
23.39 x 15.6 x 2.08
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

1. Introduction. 2. Methods of Forming SOI Wafers. 3. SOI Devices. 4. Wafer Screening Techniques. 5. Transport Measurements. 6. SUS Capacitor Based Characterization Techniques. 7. Diode Measurements. 8. Transistor Characteristics. 9. Transistor Based Characterization Techniques. 10. Monitoring the Transistor Degradation. Index.

Sheng Li wurde 1975 in Taiyuan, in der VR China geboren, wo er sein Studium im Fach Jura absolvierte und schließlich zwei Jahre lang als Dozent für Wirtschaftsrecht an der juristischen Fakultät der North University of China arbeitete Zurzeit arbeitet er an seiner Promotion an der Universität Bayreuth.
Als chinesischer Rechtswissenschaftler in Deutschland sieht er es als seine Aufgabe, einen Beitrag zum Austausch zwischen deutschem und chinesischem Recht zu leisten. Von März bis Juli 2010 arbeitete er als Gutachter im Programm Verbraucherschutz und Produktsicherheit bei der GIZ China und wirkte beim Deutsch-Chinesischen Symposium zur Spielwarensicherheit mit. Die Tätigkeit motivierte ihn, sich der Thematik des vorliegenden Buches zu widmen.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia