ISBN-13: 9783841627742 / Francuski / Miękka / 2018 / 112 str.
Ce projet a portA(c) sur la synthA]se du matA(c)riau massif quaternaire CZTS par le biais de la mA(c)thode de Bridgman horizontale et l'A(c)laboration des couches minces dudit matA(c)riau par la technique d'A(c)vaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois mA(c)thodes d'analyse ont A(c)tA(c) adoptA(c)es dans le but d'effectuer la caractA(c)risation structurale, optique et A(c)lectrique des couches minces de CZTS A savoir la diffraction des rayons X, la spectromA(c)trie UV-Vis ainsi que la mA(c)thode de la pointe chaude. La caractA(c)risation structurale a portA(c) sur la dA(c)termination des phases cristallines prA(c)sentes dans les couches A(c)laborA(c)es A des tempA(c)ratures de substrats variA(c)es ainsi que des paramA]tres de maille selon la mA(c)thode cristallographique classique et la mA(c)thode de Nelson-Riley. La caractA(c)risation optique a concernA(c) la dA(c)termination des constantes optiques telles que le coefficient d'absorption optique ainsi que le gap optique et leur A(c)volution en fonction de la tempA(c)rature des substrats. La caractA(c)risation morphologique a concernA(c) le calcul de la rugositA(c) des couches alors que la caractA(c)risation A(c)lectrique a portA(c) sur la dA(c)termination du type de conductivitA(c) des diverses couches minces de CZTS.
Ce projet a porté sur la synthèse du matériau massif quaternaire CZTS par le biais de la méthode de Bridgman horizontale et lélaboration des couches minces dudit matériau par la technique dévaporation thermique sous vide. Au cours de ce travail, trois méthodes danalyse ont été adoptées dans le but deffectuer la caractérisation structurale, optique et électrique des couches minces de CZTS à savoir la diffraction des rayons X, la spectrométrie UV-Vis ainsi que la méthode de la pointe chaude. La caractérisation structurale a porté sur la détermination des phases cristallines présentes dans les couches élaborées à des températures de substrats variées ainsi que des paramètres de maille selon la méthode cristallographique classique et la méthode de Nelson-Riley. La caractérisation optique a concerné la détermination des constantes optiques telles que le coefficient dabsorption optique ainsi que le gap optique et leur évolution en fonction de la température des substrats. La caractérisation morphologique a concerné le calcul de la rugosité des couches alors que la caractérisation électrique a porté sur la détermination du type de conductivité des diverses couches minces de CZTS.