ISBN-13: 9786131555046 / Francuski / Miękka / 2018 / 228 str.
Le controle des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. L'evolution des technologies et la diminution resultante des tensions d'alimentation rendent ce controle de plus en plus delicat. L'objectif de ce travail de recherche est de proposer un nouveau systeme d'ajustement des performances des circuits analogiques apres la mise en boitier sans l'utilisation de broche dediee. Apres avoir situe le travail dans son contexte, l'etat de l'art des techniques utilisees a ce jour a ete presente et un nouveau concept d'ajustement apres la mise en boitier a ete propose. Dans le chapitre suivant, un nouveau composant claquable, le transistor MOS "snap-back" a ete caracterise et valide dans une technologie BiCMOS. Deux techniques d'ajustement de performances adaptees aux brochages des circuits consideres ont ete developpees et integrees dans des circuits industriels. Dans le dernier chapitre, la fiabilite industrielle de ces deux systemes de controle des performances des circuits analogiques a ete demontree."
Le contrôle des performances des structures analogiques constitue un objectif de conception majeur. Lévolution des technologies et la diminution résultante des tensions dalimentation rendent ce contrôle de plus en plus délicat. Lobjectif de ce travail de recherche est de proposer un nouveau système dajustement des performances des circuits analogiques après la mise en boîtier sans lutilisation de broche dédiée. Après avoir situé le travail dans son contexte, létat de lart des techniques utilisées à ce jour a été présenté et un nouveau concept dajustement après la mise en boîtier a été proposé. Dans le chapitre suivant, un nouveau composant claquable, le transistor MOS "snap-back" a été caractérisé et validé dans une technologie BiCMOS. Deux techniques dajustement de performances adaptées aux brochages des circuits considérés ont été développées et intégrées dans des circuits industriels. Dans le dernier chapitre, la fiabilité industrielle de ces deux systèmes de contrôle des performances des circuits analogiques a été démontrée.