ISBN-13: 9783841677518 / Francuski / Miękka / 2018 / 148 str.
Les travaux presentes dans ce manuscrit sont axes sur le developpement d'une nouvelle technique de caracterisation basee sur la variation de la reponse d'un resonateur, reponse modifiee par les proprietes dielectriques d'un materiau sous test. La technique proposee utilise la microscopie microonde en champ proche pour la caracterisation resonante et non destructive de materiaux dielectriques dans la bande ISM (2,45 GHz). Celle-ci permet de determiner les proprietes electromagnetiques (permittivite relative, tangente de pertes) des echantillons dielectriques solides de faible volume par rapport a la longueur d'onde de mesure, et cela sans aucun traitement prealable. La connaissance de ces parametres est essentielle pour fournir des informations critiques necessaires pour la conception, la modelisation et la fabrication de circuits microondes."
Les travaux présentés dans ce manuscrit sont axés sur le développement dune nouvelle technique de caractérisation basée sur la variation de la réponse dun résonateur, réponse modifiée par les propriétés diélectriques dun matériau sous test. La technique proposée utilise la microscopie microonde en champ proche pour la caractérisation résonante et non destructive de matériaux diélectriques dans la bande ISM (2,45 GHz). Celle-ci permet de déterminer les propriétés électromagnétiques (permittivité relative, tangente de pertes) des échantillons diélectriques solides de faible volume par rapport à la longueur donde de mesure, et cela sans aucun traitement préalable. La connaissance de ces paramètres est essentielle pour fournir des informations critiques nécessaires pour la conception, la modélisation et la fabrication de circuits microondes.