Analytische Transmissionselektronenmikroskopie: Eine Praxisbezogene Einführung

ISBN-13: 9783662667224 / Niemiecki

J?rgen Thomas; Thomas Gemming

Opis

Das Buch wendet sich an Studierende, Techniker und Wissenschaftler, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine ausgebildeten Elektronenmikroskopiker sind. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studenten, Diplomanden, Doktoranden und Technikern. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselekronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.

Spis treści

Aus dem Inhalt: Wozu dieser Aufwand.- Was wir über Elektronenoptik und den Aufbau eines Elektronenmikroskops wissen sollten.- Wir präparieren elektronentransparente Proben.- Wir beginnen mit der praktischen Arbeit.- Wir schalten um auf Elektronenbeugung.- Warum sehen wir Kontraste im Bild.- Wir erhöhen die Vergrößerung.- Wir schalten um auf Rastertransmissionselektronenmikroskopie.- Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten.- Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik).

O autorze

Jürgen Thomas studierte an der Technischen Universität Dresden Physik. Bereits im Studium schloss er Bekanntschaft mit der Elektronenmikroskopie und diplomierte und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Anschließend war er in der Industrieforschung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vakuumtechnologien verantwortlich. Nach einigen Jahren wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er mehrere Jahrzehnte im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitete.

Thomas Gemming studierte an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Manfred Rühle. Anschließend erweiterte er als wissenschaftlicher Mitarbeiter sein Arbeitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Wenig später wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er heute die Abteilung Strukturanalyse leitet. Außerdem ist er Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.

Blurb

Das Buch wendet sich an alle, egal ob im Studium, in technischen Berufen, oder in der Wissenschaft, die die sich für die analytische Transmissionselektronenmikroskopie interessieren und einen Überblick über diese Methode erhalten möchten. Insbesondere betrifft dies Personen, die an einem Transmissionselektronenmikroskop arbeiten wollen oder müssen, die aber noch keine spezielle elektronenmikroskopische Ausbildung durchlaufen haben. Das Buch basiert auf den Erfahrungen der Autoren bei der Unterrichtung von Studierenden, Promovierenden und in technischen Berufen Tätigen. Der Überblick über die analytische Transmissionselektronenmikroskopie umfasst die Schwerpunkte Optische Abbildung, Elektronenwellen, magnetische Linsen, Abbildungsfehler, Aufbau eines Transmissionselektronenmikroskops, Präparation dünner Proben, Justage des Mikroskops, Elektronenbeugung, Kontrastentstehung, Höchstauflösungselektronenmikroskopie, Rastertransmissionselektronenmikroskopie sowie Analytik mittels energiedispersiver Röntgenspektroskopie und Elektronenenergieverlust-Spektroskopie. Ein mathematischer Anhang erklärt grundlegende Formalismen zur Thematik.

Die Autoren

Jürgen Thomas studierte an der Technischen Universität Dresden Physik. Bereits im Studium schloss er Bekanntschaft mit der Elektronenmikroskopie und diplomierte und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Anschließend war er in der Industrieforschung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vakuumtechnologien verantwortlich. Nach einigen Jahren wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er mehrere Jahrzehnte im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitete.

Thomas Gemming studierte an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Manfred Rühle. Anschließend erweiterte er als wissenschaftlicher Mitarbeiter sein Arbeitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Wenig später wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er heute die Abteilung Strukturanalyse leitet. Außerdem ist er Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.