• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Advances in X-Ray Analysis: Volume 10 » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2950560]
• Literatura piękna
 [1849509]

  więcej...
• Turystyka
 [71097]
• Informatyka
 [151150]
• Komiksy
 [35848]
• Encyklopedie
 [23178]
• Dziecięca
 [617388]
• Hobby
 [139064]
• AudioBooki
 [1657]
• Literatura faktu
 [228597]
• Muzyka CD
 [383]
• Słowniki
 [2855]
• Inne
 [445295]
• Kalendarze
 [1464]
• Podręczniki
 [167547]
• Poradniki
 [480102]
• Religia
 [510749]
• Czasopisma
 [516]
• Sport
 [61293]
• Sztuka
 [243352]
• CD, DVD, Video
 [3414]
• Technologie
 [219456]
• Zdrowie
 [101002]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2311]
• Puzzle, gry
 [3459]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8079]
Kategorie szczegółowe BISAC

Advances in X-Ray Analysis: Volume 10

ISBN-13: 9781468478372 / Angielski / Miękka / 2012 / 558 str.

John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
Advances in X-Ray Analysis: Volume 10 Newkirk, John B. 9781468478372 Springer - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Advances in X-Ray Analysis: Volume 10

ISBN-13: 9781468478372 / Angielski / Miękka / 2012 / 558 str.

John B. Newkirk; Gavin R. Mallett
cena 201,24
(netto: 191,66 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 192,74
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Dostawa w 2026 r.

Darmowa dostawa!

The featured subject of the 1966 Denver X-Ray Conference was X-Ray Diffraction Topography and Dynamical X-Ray Phenomena. One of the chairmen of the featured ses- sions, Professor R. A. Young, made the following remarks at the conclusion of his session. We think they are quite appropriate to the occasion and with his permission we reproduce them here.

Kategorie:
Nauka, Chemia
Kategorie BISAC:
Science > Chemia - Fizyczna
Wydawca:
Springer
Język:
Angielski
ISBN-13:
9781468478372
Rok wydania:
2012
Wydanie:
Softcover Repri
Ilość stron:
558
Waga:
1.07 kg
Wymiary:
25.4 x 17.8
Oprawa:
Miękka
Wolumenów:
01

X-Ray Diffraction Topography.- Contrast of Dislocation Images in X-Ray Transmission Topography.- The Asymmetric Bragg Reflection and Its Application in Double Diffractometry.- Experimental Determination of the Integrated Contribution of Temperature Diffuse Scattering in X-Ray Reflections.- The X-Ray Diffraction Image of a Stacking Fault.- Dynamical Theory for Simultaneous X-Ray Diffraction.- Measuring Techniques of Parallel-Beam-Diffraction Micrography.- Some Recent Applications of X-Ray Topography.- The Dilemma of Anomalous X-Ray Reflections.- X-Ray Diffraction Microscopy of Planar Diffused Junction Structures.- Experimental Procedures in X-Ray Diffraction Topography.- X-Ray Diffraction Contrast from Impurity Precipitates in CdS Single Crystals.- Lang X-Ray Topographic Studies of Ruby Grown by Different Methods.- The Analysis of Berg-Barrett Skew Reflections and Their Applications in the Observation of Process-Induced Imperfections in (111) Silicon Wafers.- The Effect of Small Additions of Magnesium on the Preprecipitation Behavior of Al-Zn Alloys.- Analysis of High Angle Diffuse Scattering from Small Platelets.- X-Ray Diffraction Study of Ordering in Two Sigma Phases.- A Study of the Unusual Line Structure in Powder Patterns of Pyrolytically Deposited Boron Compounds and Other Materials.- The Expansion upon Cooling of Thick Cu2O Films Grown on Copper Substrates.- New Results on the Iron-Nickel Equilibrium Diagram—The Gamma/Gamma-Plus-Alpha Boundary.- Lattice Constant and Crystallite Size of Condensed Gold Vapor.- Line Shape Analysis of Deformed Cu-Ge Alloys.- Anomalous Residual Stresses.- Experimental Factors Concerning X-Ray Residual Stress Measurements in High-Strength Aluminum Alloys.- X-Ray Measurement of Residual Stresses in Titanium Alloy Sheet.- The Application of X-Ray Diffraction Techniques to the Study of Wear.- X-Ray Analysis of Fatigue Damage in Copper.- Improvement of Accuracy in Representation of Conventional Pole Figures.- Precision Lattice Parameter Determination at Liquid Helium Temperatures by Double-Scanning Diffractometry.- Numerical Control X-Ray Powder Diffractometry.- The Effects of Electronic Structure and Interatomic Bonding on the Soft X-Ray Al K Emission Spectrum from Aluminum Binary Systems.- Multilayer Soap Film Structures.- Production Efficiencies of X-Ray Emission Spectra by Proton Bombardment.- Electron Microprobe Analyses and X-Ray Diffraction Study of SrSi2.- The Application of the Electron Microprobe in the Analysis of Nuclear Fuel Meltdown Experiments.- Preparation of Electron Probe Microanalyzer Standards Using a Rapid Quench Method.- Quantitative Microprobe Analysis by Means of Target Current Measurements.- A Comparison of Four Slit Apertures for Selected-Area Analysis with the X-Ray Secondary-Emission Spectrometer.- The Analysis of the Light Elements in Ferrotitanium Ores and Residues of Widely Varying Composition by X-Ray Spectrography.- A Glass Fusion Method for X-Ray Fluorescence Analysis.- Quantitative X-Ray Emission Analysis of Magnesium Through Fluorine with X-Ray and Electron Excitation.- A Method of Liquid Analyses Providing Increased Sensitivity for Light Elements.- The Demountable Tube in Light Element Fluorescence Analysis.- Characteristics of Flow Proportional Counters for X-Rays.- Author Index.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia