• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis » książka

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

ISBN-13: 9780306421402 / Angielski / Twarda / 1986 / 454 str.

Dale E. Newbury;Newbury; Patrick Echlin
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Dale E. Newbury Newbury                                  Patrick Echlin 9780306421402 Plenum Publishing Corporation - książkaWidoczna okładka, to zdjęcie poglądowe, a rzeczywista szata graficzna może różnić się od prezentowanej.

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

ISBN-13: 9780306421402 / Angielski / Twarda / 1986 / 454 str.

Dale E. Newbury;Newbury; Patrick Echlin
cena 685,93 zł
(netto: 653,27 VAT:  5%)

Najniższa cena z 30 dni: 655,41 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 22 dni roboczych
Bez gwarancji dostawy przed świętami

Darmowa dostawa!

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972. In order to provide a textbook containing the materials presented in the original course, the lecturers collaborated to write the book Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), which was published by Plenum Press in 1975. The course con tinued to evolve and expand in the ensuing years, until the volume of material to be covered necessitated the development of separate intro ductory and advanced courses. In 1981 the lecturers undertook the project of rewriting the original textbook, producing the volume Scan ning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis (SEMXM). This vol ume contained substantial expansions of the treatment of such basic material as electron optics, image formation, energy-dispersive x-ray spectrometry, and qualitative and quantitative analysis. At the same time, a number of chapters, which had been included in the PSEM vol ume, including those on magnetic contrast and electron channeling con trast, had to be dropped for reasons of space. Moreover, these topics had naturally evolved into the basis of the advanced course. In addition, the evolution of the SEM and microanalysis fields had resulted in the devel opment of new topics, such as digital image processing, which by their nature became topics in the advanced course."

Kategorie:
Nauka, Medycyna
Kategorie BISAC:
Science > Electron Microscopes & Microscopy
Medical > Patologia medyczna
Technology & Engineering > Materials Science - General
Wydawca:
Plenum Publishing Corporation
Język:
Angielski
ISBN-13:
9780306421402
Rok wydania:
1986
Wydanie:
1986
Ilość stron:
454
Waga:
1.88 kg
Wymiary:
23.4 x 15.6
Oprawa:
Twarda
Wolumenów:
01
Dodatkowe informacje:
Bibliografia

1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

Joseph Goldstein leitet seit 1974 weltweit Retreats und Seminare in buddhistischer Meditation und ist Mitbegründer der Insight Meditation Society.
Seine Praxis begann er 1967, als er als Friedensaktivist in Thailand auf den Buddhismus stieß. Heute gilt er als einer der führenden Vertreter eines westlichen Buddhismus. In deutscher Sprache wurde von ihm (gemeinsam mit Jack Kornfield) das Buch Einsicht durch Meditation veröffentlicht.



Udostępnij

Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia