AI und maschinelles Lernen in der Kephalometrie: Verbesserte Diagnose und Automatisierung

ISBN-13: 9783639678895 / Niemiecki / Miękka / 2025 / 84 str.

Shreya Patel; Khyati V Patel

Opis

In dieser Rezension werden KI und maschinelles Lernen in der kephalometrischen Analyse untersucht, wobei der Schwerpunkt auf Automatisierung, diagnostischer Genauigkeit und Behandlungsoptimierung liegt.Eine PRISMA-ScR-basierte Literatursuche (2017-2024) in mehreren Datenbanken identifizierte relevante Studien. Dreizehn von 174 Artikeln erfüllten die Einschlusskriterien und umfassten verschiedene Studientypen. Die meisten bestätigten die Zuverlässigkeit der KI bei der kephalometrischen Analyse.KI und maschinelles Lernen verbessern die kephalometrische Analyse durch höhere Genauigkeit und Effizienz, was der kieferorthopädischen Versorgung zugute kommt.