CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155 » książka
topmenu
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
ISBN-13: 9781605111285 / Angielski / Twarda / 2009 / 194 str.
CMOS Gate-Stack Scaling — Materials, Interfaces and Reliability Implications: Volume 1155
ISBN-13: 9781605111285 / Angielski / Twarda / 2009 / 194 str.
cena 468,22 zł
(netto: 445,92 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 467,32 zł
(netto: 445,92 VAT: 5%)
Najniższa cena z 30 dni: 467,32 zł
Termin realizacji zamówienia:
ok. 16-18 dni roboczych.
ok. 16-18 dni roboczych.
Darmowa dostawa!
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Czytaj nas na:
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
