Die Beugung von Röntgenstrahlen an einem Kristall ergibt im Idealfall Dirac-Peaks an denDie grafische Darstellung der Beugungsintensität als Funktion des Winkels 2 wird als Beugungsdiagramm oder Diffraktogramm oder auch als Beugungsspektrum bezeichnet.Die Analyse von Beugungsmustern führt zur Interpretation der Strukturen und mikrostrukturellen Eigenschaften von kristallisierten Proben. Es gibt jedoch mehrere Faktoren, die die Position, die Peakbreite und die Beugungsintensität beeinflussen, darunter die spektrale Streuung, die Fraktion, der Absorptionsfaktor und der Lorentzfaktor.

Ideally, X-ray diffraction by a crystal produces Dirac peaks at diffraction angles.diffraction angles; the graphical representation of diffracted intensity as a function of angle 2 is called a diffraction diagram, diffractogram or diffraction spectrum.The analysis of diffraction patterns leads to the interpretation of the structures and microstructural properties of crystallized samples. But there are a number of factors influencing peak position, peak width and diffracted intensity, including spectral dispersion, refraction, absorption factor and Lorentz factor.