In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung fur Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests fur die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test fur die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prufgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von...