• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

John C. Russ - książki

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949524]
• Literatura piękna
 [1817948]

  więcej...
• Turystyka
 [70715]
• Informatyka
 [151291]
• Komiksy
 [35671]
• Encyklopedie
 [23176]
• Dziecięca
 [612440]
• Hobby
 [136066]
• AudioBooki
 [1740]
• Literatura faktu
 [226030]
• Muzyka CD
 [378]
• Słowniki
 [2918]
• Inne
 [445441]
• Kalendarze
 [1181]
• Podręczniki
 [166545]
• Poradniki
 [469898]
• Religia
 [508035]
• Czasopisma
 [502]
• Sport
 [61392]
• Sztuka
 [242759]
• CD, DVD, Video
 [3348]
• Technologie
 [219537]
• Zdrowie
 [98738]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2382]
• Puzzle, gry
 [3543]
• Literatura w języku ukraińskim
 [259]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7107]
Kategorie szczegółowe BISAC
 Advances in X-Ray Analysis: Volume 25 Russ, John C. 9781461399957 Springer
Advances in X-Ray Analysis: Volume 25

Russ, John C.
In alternating years, the Denver X-ray Conference turns its principal attention, through the choice of subjects for the plenary lectures, to various aspects of either X-ray fluorescence or dif- fraction. This is a "fluorescence" year, and the three invited lecturers are experts in techniques that are at, or perhaps yet a bit beyond, the forefront of our understanding and technology in that field. The common denominator in selecting these subjects was that each is approaching a full elucidation of theory, and active develop- ment of practical hardware, and that each presents analytical pos-...
In alternating years, the Denver X-ray Conference turns its principal attention, through the choice of subjects for the plenary lectures, to various a...
cena: 201,24
 Computer-Assisted Microscopy: The Measurement and Analysis of Images Russ, John C. 9781461278689 Springer
Computer-Assisted Microscopy: The Measurement and Analysis of Images

Russ, John C.
The use of computer-based image analysis systems for all kinds of images, but especially for microscope images, has become increasingly widespread in recent years, as computer power has increased and costs have dropped. Software to perform each of the various tasks described in this book exists now, and without doubt additional algorithms to accomplish these same things more efficiently, and to perform new kinds of image processing, feature discrimination and measurement, will continue to be developed. This is likely to be true particularly in the field of three-dimensional imaging, since new...
The use of computer-based image analysis systems for all kinds of images, but especially for microscope images, has become increasingly widespread in ...
cena: 402,53


Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia