El estudio que se presenta esta basado en tecnicas interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas de usar un interferometro de doble ventana con rejilla de fase y modulacion en polarizacion para estudio de objetos de fase delgada, que esten estaticos y en movimiento, esto ultimo se logra obteniendo los corrimientos de fase necesarios en una sola toma. En primera instancia se analizan las caracteristicas de difraccion de las rejillas de fase y los efectos que generan en los patrones de interferencia en un interferometro de doble ventana. Los corrimientos de fase necesarios...