Die hochempfindliche Methode der Microwave Detected Photoconductivity" (MDP) wird eingesetzt, um technologisch relevante Halbleiterparameter wie die Ladungstragerlebensdauer, Photoleitfahigkeit und Defektkonzentrationen uber viele Grossenordnungen der optischen Anregung hinweg zu untersuchen. Durch die Entwicklung und die Anwendung eines neuartigen Modellierungssystems fur die Ladungstragerdynamik in Halbleitern konnen wichtige Defektparameter quantitativ aus MDP Messungen in Abhangigkeit der Anregungsintensitat bestimmt werden. Ein Verfahren zur Charakterisierung von Haftstellen...