In Anbetracht der rasch wachsenden Bedeutung der Oberflachenanalytik schien es angebracht, die drei Methoden, welche bereits in einem sehr hohen Masse fur die industrielle und forschungsbezogene Routineanalytik eingesetzt und haufig mit einander kombiniert werden, namlich SIMS, AES und XPS in einer Monographie darzustellen. Um die notwendige Tiefe der Darstellung zu erreichen, wurde dieses Buch nicht von einem Autor verfasst, sondern greift auf drei verschiedene Autoren mit unter schiedlichen Spezialkenntnissen zuruck. Dies garantiert dem Leser die direkte Ver mittlung von theoretischem und...