• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Said Hamdioui - książki

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2949524]
• Literatura piękna
 [1817948]

  więcej...
• Turystyka
 [70715]
• Informatyka
 [151291]
• Komiksy
 [35671]
• Encyklopedie
 [23176]
• Dziecięca
 [612440]
• Hobby
 [136066]
• AudioBooki
 [1740]
• Literatura faktu
 [226030]
• Muzyka CD
 [378]
• Słowniki
 [2918]
• Inne
 [445441]
• Kalendarze
 [1181]
• Podręczniki
 [166545]
• Poradniki
 [469898]
• Religia
 [508035]
• Czasopisma
 [502]
• Sport
 [61392]
• Sztuka
 [242759]
• CD, DVD, Video
 [3348]
• Technologie
 [219537]
• Zdrowie
 [98738]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2382]
• Puzzle, gry
 [3543]
• Literatura w języku ukraińskim
 [259]
• Art. papiernicze i szkolne
 [7107]
Kategorie szczegółowe BISAC
 Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns Hamdioui, Said 9781402077524 Kluwer Academic Publishers
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns

Hamdioui, Said
Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies...
Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of st...
cena: 402,53
 Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns Hamdioui, Said 9781441954305 Not Avail
Testing Static Random Access Memories: Defects, Fault Models and Test Patterns

Hamdioui, Said
Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of static random access memories (SRAMs), both single-port and multi-port. It contributes to the technical acknowledge needed by those involved in memory testing, engineers and researchers. The book begins with outlining the most popular SRAMs architectures. Then, the description of realistic fault models, based on defect injection and SPICE simulation, are introduced. Thereafter, high quality and low cost test patterns, as well as test strategies...
Testing Static Random Access Memories covers testing of one of the important semiconductor memories types; it addresses testing of st...
cena: 402,53


Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2026 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia