Despite the recent progress in developing various microanalytical tools of better spatial resolution and more sensitivity to chemical analyses for the study of various defects in metallic solids the Field-Ion Microscope (FIM) still remains the only instrument up to now to resolve single atoms in the surface of a metal. Fifteen years after Milller ) invented the FIM he was also the first to combine the FIM with a time-of-flight (ToF) mass spectrometer - the so-called Atom-Probe FlM - to identify the chemical nature of single atoms imaged in the FIM2). Originally the motivation to develop the...

Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfangen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen fur die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfugung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden mussen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben."