Determinación de las dimensiones de objetos 3D usando luz estructurada » książka
Determinación de las dimensiones de objetos 3D usando luz estructurada
ISBN-13: 9783846579015 / Hiszpański / Miękka / 2011 / 144 str.
En este trabajo se logra la reconstruccion de la superficie de objetos 3D asi como la determinacion de sus respectivas dimensiones. Para este proposito se utiliza un arreglo optico que consiste de un proyector con una rejilla de Ronchi y una camara CCD. Se proyecta la rejilla sobre un plano referencia en el que genera un patron de franjas de periodo espacial conocido y se captura esta imagen (imagen portadora). Luego se proyecta la rejilla sobre la superficie del objeto bajo analisis y se captura esta nueva imagen del patron de franjas modulado por la superficie del objeto (imagen modulante con portadora incluida). Posteriormente, se calcula la fase envuelta asociada con el patron de franjas para cada imagen, usando el metodo del desplazamiento de fase o el metodo de la transformada rapida de Fourier. Luego, se restan las fases, obteniendose la informacion de fase envuelta. A la informacion de fase envuelta se le aplica un algoritmo de desenvolvimiento y luego un algoritmo de conversion de fase a altura, logrando asi la reconstruccion de la superficie del objeto y la obtencion de sus respectivas dimensiones."
En este trabajo se logra la reconstrucción de la superficie de objetos 3D así como la determinación de sus respectivas dimensiones. Para este propósito se utiliza un arreglo óptico que consiste de un proyector con una rejilla de Ronchi y una cámara CCD. Se proyecta la rejilla sobre un plano referencia en el que genera un patrón de franjas de periodo espacial conocido y se captura esta imagen (imagen portadora). Luego se proyecta la rejilla sobre la superficie del objeto bajo análisis y se captura esta nueva imagen del patrón de franjas modulado por la superficie del objeto (imagen modulante con portadora incluida). Posteriormente, se calcula la fase envuelta asociada con el patrón de franjas para cada imagen, usando el método del desplazamiento de fase o el método de la transformada rápida de Fourier. Luego, se restan las fases, obteniéndose la información de fase envuelta. A la información de fase envuelta se le aplica un algoritmo de desenvolvimiento y luego un algoritmo de conversión de fase a altura, logrando así la reconstrucción de la superficie del objeto y la obtención de sus respectivas dimensiones.
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