• Wyszukiwanie zaawansowane
  • Kategorie
  • Kategorie BISAC
  • Książki na zamówienie
  • Promocje
  • Granty
  • Książka na prezent
  • Opinie
  • Pomoc
  • Załóż konto
  • Zaloguj się

Sadewasser, Sascha » książki

zaloguj się | załóż konto
Logo Krainaksiazek.pl

koszyk

konto

szukaj
topmenu
Księgarnia internetowa
Szukaj
Książki na zamówienie
Promocje
Granty
Książka na prezent
Moje konto
Pomoc
 
 
Wyszukiwanie zaawansowane
Pusty koszyk
Bezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 złBezpłatna dostawa dla zamówień powyżej 20 zł

Kategorie główne

• Nauka
 [2946600]
• Literatura piękna
 [1856966]

  więcej...
• Turystyka
 [72221]
• Informatyka
 [151456]
• Komiksy
 [35826]
• Encyklopedie
 [23190]
• Dziecięca
 [619653]
• Hobby
 [140543]
• AudioBooki
 [1577]
• Literatura faktu
 [228355]
• Muzyka CD
 [410]
• Słowniki
 [2874]
• Inne
 [445822]
• Kalendarze
 [1744]
• Podręczniki
 [167141]
• Poradniki
 [482898]
• Religia
 [510455]
• Czasopisma
 [526]
• Sport
 [61590]
• Sztuka
 [243598]
• CD, DVD, Video
 [3423]
• Technologie
 [219201]
• Zdrowie
 [101638]
• Książkowe Klimaty
 [124]
• Zabawki
 [2473]
• Puzzle, gry
 [3898]
• Literatura w języku ukraińskim
 [254]
• Art. papiernicze i szkolne
 [8170]
Kategorie szczegółowe BISAC

Wyniki wyszukiwania:

wyszukanych pozycji: 4

Dostępność:
Kategoria:
Dostępny język:
Cena:
od:
do:
ilość na stronie:


 Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces Sadewasser, Sascha 9783642225659
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces

ISBN: 9783642225659 / Twarda / 2011 / 334 str.

ISBN: 9783642225659/Twarda/2011/334 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the...

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gi...

cena: 403,47 zł

 Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces Sadewasser, Sascha 9783642271137
Kelvin Probe Force Microscopy: Measuring and Compensating Electrostatic Forces

ISBN: 9783642271137 / Angielski / Miękka / 2013 / 334 str.

ISBN: 9783642271137/Angielski/Miękka/2013/334 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gives a concise introduction into the method and describes various experimental techniques. Surface potential studies on semiconductor materials, nanostructures and devices are described, as well as application to molecular and organic materials. The current state of surface potential at the atomic scale is also considered. This book presents an excellent introduction for the newcomer to this field, as much as a valuable resource for the...

Over the nearly 20 years of Kelvin probe force microscopy, an increasing interest in the technique and its applications has developed. This book gi...

cena: 403,47 zł

 Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization Sadewasser, Sascha 9783030092986
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

ISBN: 9783030092986 / Angielski / Miękka / 2019 / 521 str.

ISBN: 9783030092986/Angielski/Miękka/2019/521 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel
cena: 887,69 zł

 Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization Sadewasser, Sascha 9783319756868
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization

ISBN: 9783319756868 / Angielski / Twarda / 2018 / 521 str.

ISBN: 9783319756868/Angielski/Twarda/2018/521 str.

Termin realizacji zamówienia: ok. 22 dni roboczych (Bez gwarancji dostawy przed świętami)
Sascha Sadewasser; Thilo Glatzel
cena: 887,69 zł


Facebook - konto krainaksiazek.pl



Opinie o Krainaksiazek.pl na Opineo.pl

Partner Mybenefit

Krainaksiazek.pl w programie rzetelna firma Krainaksiaze.pl - płatności przez paypal

Czytaj nas na:

Facebook - krainaksiazek.pl
  • książki na zamówienie
  • granty
  • książka na prezent
  • kontakt
  • pomoc
  • opinie
  • regulamin
  • polityka prywatności

Zobacz:

  • Księgarnia czeska

  • Wydawnictwo Książkowe Klimaty

1997-2025 DolnySlask.com Agencja Internetowa

© 1997-2022 krainaksiazek.pl
     
KONTAKT | REGULAMIN | POLITYKA PRYWATNOŚCI | USTAWIENIA PRYWATNOŚCI
Zobacz: Księgarnia Czeska | Wydawnictwo Książkowe Klimaty | Mapa strony | Lista autorów
KrainaKsiazek.PL - Księgarnia Internetowa
Polityka prywatnosci - link
Krainaksiazek.pl - płatnośc Przelewy24
Przechowalnia Przechowalnia